扫描透射电镜百科

Spectra新的检测功能，使科学家和工程师能够获得以前难以获得的原子级数据，以满足更广泛的应用需求。该平台可以获得极其光束敏感的材料和半导体结构的详细图像，包括金属有机框架，沸石和聚合物，如果暴露在电子束中太长时间或在错误的电压下可能会损坏或破坏。它还满足了使用EDX（能量分散X射线）或EELS（电子能量损失光谱）等多种方式对大量原子级化学分析的不断增长的需求。

Phenom Pharos STEM 台式场发射电子显微镜，从另一个维度提高了其成像能力和 应用的多样性。 Pharos STEM 电子显微镜，利用 FEG 高亮度电子源，可在透射模式下对薄样品进行成像。专用的样品夹可轻松装载常规 3mm 直径透射电镜(TEM)载网，实现样品的快速、安全切换。可提供明场 (BF) 、暗场 (DF) 和高角度环形暗场 (HAADF) 像，并支持自定义选择成像模式。

Phenom Pharos STEM 台式场发射电子显微镜，从另一个维度提高了其成像能力和 应用的多样性。 Pharos STEM 电子显微镜，利用 FEG 高亮度电子源，可在透射模式下对薄样品进行成像。专用的样品夹可轻松装载常规 3mm 直径透射电镜(TEM)载网，实现样品的快速、安全切换。可提供明场 (BF) 、暗场 (DF) 和高角度环形暗场 (HAADF) 像，并支持自定义选择成像模式。

Phenom Pharos STEM 台式场发射电子显微镜，从另一个维度提高了其成像能力和 应用的多样性。 Pharos STEM 电子显微镜，利用 FEG 高亮度电子源，可在透射模式下对薄样品进行成像。专用的样品夹可轻松装载常规 3mm 直径透射电镜(TEM)载网，实现样品的快速、安全切换。可提供明场 (BF) 、暗场 (DF) 和高角度环形暗场 (HAADF) 像，并支持自定义选择成像模式。

专用扫描透射显微镜HD-2700，配备了与德国CEOS GmbH公司(总经理Max Haider先生)共同开发的球差校正仪，显著提高了扫描透射电子显微镜的性能，更适合高级纳米技术研究。由于球差校正系统校正了限制电子显微镜的性能的球差，使其与标准型号显微镜相比，分辨率提高了1.5倍，同时，探针电流提高了10倍。

该平台可以获得极其光束敏感的材料和半导体结构的详细图像，包括金属有机框架，沸石和聚合物，如果暴露在电子束中太长时间或在错误的电压下可能会损坏或破坏。它还满足了使用EDX（能量分散X射线）或EELS（电子能量损失光谱）等多种方式对大量原子级化学分析的不断增长的需求。

•更高亮度的电子源 •更简单的电气特性分析 •高动态范围映射