布鲁克AXS 线下推介会 | 解锁材料分析新利器,洞悉应用新方向
以下文章来源于布鲁克X射线部门
大昌华嘉诚挚地邀请您参加布鲁克 AXS 线下推介会 —— 解锁材料分析新利器,洞悉应用新方向 学术会议。
本次会议聚焦材料科学与微观表征领域前沿,汇聚布鲁克众多权威专家,与您共同探讨材料微观结构分析的创新技术与应用成果。会议将围绕基于X射线衍射解锁物质结构密码、X射线荧光光谱的最新技术进展及其在新材料分析中的应用、电子显微镜的微观结构分析 —— 纳米级能谱及 EBSD 技术及应用等重要议题展开深入研讨。通过主题报告、技术交流、真机展示等形式,分享 X 射线相关技术在材料科学领域的最新研究成果和应用案例,为您呈现一场知识与创新交融的学术盛宴。
会议详细议程及报名方式请见下方链接。如您确认参会,请于每场交流会日期前通过报名链接完成报名,以便我们给您预留位置。
会议时间 & 地点 | |||
6月24日 星期二 | 西安皇冠假日酒店(西安碑林区朱雀路中段1号) |
会议内容 | |||
09:00-09:05 | 欢迎致辞 | ||
09:05-10:05 | 利用X射线衍射解锁物质结构密码:从局域尺度的PDF分析到取向薄膜结构分析 | ||
10:05-10:35 | X射线荧光光谱的最新技术进展及其在新材料分析中的应用 近十年来,工业产业升级及新材料研发生产,对元素分析技术提出了新的要求,本报告介绍了X射线荧光光谱分析技术在新材料(光伏材料,锂电池…)研发生产中的应用,以及在传统领域(可产、水泥、环境…)的最新应用进展替代传统 ·探测器的高分辨率免维护的新型探测器技术 ·波谱能谱联用技术 ·AI智能样品识别及保护技术 | ||
10:35-10:45 茶歇 | |||
10:45-11:15 | X射线荧光光谱的最新技术进展及其在新材料分析中的应用 ·探测器的高分辨率免维护的新型探测器技术 ·波谱能谱联用技术 ·AI智能样品识别及保护技术 | ||
11:15-12:00 | 探索微米世界的元素分布:微区X射线荧光光谱分析技术 | ||
12.00-13 30 自助午餐 | |||
13:30-14:30 | 单晶X射线衍射仪的多功能的扩展 | ||
14:30-15:30 | 基于扫描电镜的微观结构分析 一纳米级能谱及 EBSD 技术及应用 | ||
15:40-16:40 茶歇 | |||
15:40-16:40 | 三维X射线显微镜技术在材料科学中的应用与前沿进展 ·产品介绍 ·跨尺度多视野成像 ·原位动态成像 ·XRM与microXRF,XRD联用介绍 | ||
16:40-17:00 抽奖、活动结束 |
参与报名
微信扫码,进入报名页面,会议免收注册费。
请提前注册报名以便我们给您预留座位。
大昌华嘉科学仪器作为中国区布鲁克 AXS 能量色散X射线光谱仪 & 台式Micro-CT系列产品的总代理,我们为用户提供完善的售前、售后服务及全面的技术和应用支持。
本次也将携带能量色散XRF——S2 PUMA Series 2及Micro-CT——X4 POSEIDON参加巡演,欢迎各位莅临现场,近距离参观仪器!
X射线荧光光谱仪
(能量色散型XRF)
? 快速
新一代SDD和50W的功率
高功率(50 W)长寿命的X射线光管与新型HighSense?探测器组成的紧密耦合光路,是无与伦比的EDXRF分析性能的基础。
? 直观
SPECTRA.ELEMENTS
基于最新编程方式的新一代软件集功能性和易用性于一体,操作顺畅无忧。
? 多功能
满足各种需求的优化配置
根据样品类型和分析需求,S2 PUMA Series 2 Single、S2 PUMA Series 2 XY Autochanger、S2 PUMA Series 2 Carousel、S2 PUMA Series 2 Automation以及S2 PUMA Series 2 Mapping-Stage等各种配置涵盖了所有的可能用途。
三维 X 射线显微镜
Micro-CT(3D XRM)
模块化台式解决方案
新型台式 X 射线显微镜——X4 POSEIDON
X4 POSEIDON 是一款功能强大的微型计算机断层扫描机,采用紧凑的台式设计,具有落地式系统的功能。
? 模块化
根据您的分析需求定制系统
? 有效
以锐利的对比度分辨小至 2 微米的特征
? 易于使用
通过简单明了的工作流程和直观的用户界面,快速顺利地开展工作
大昌华嘉仪器部专业提供分析仪器及设备,代理众多欧美先进仪器,产品范围包括:颗粒,物理,化学,生化,通用实验室的各类分析仪器以及流程仪表设备,在中国的石化,化工,制药,食品,饮料,农业科技等诸多领域拥有大量用户,具有良好的市场声誉。我们的业务逐年增加,市场不断扩大。大昌华嘉公司在中国设有多个销售,服务网点,旨在为客户提供全方位的产品和服务。
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400 821 0778
ins.cn@dksh.com
- 激光粒度分析仪、颗粒图像分析系统、电声法Zeta电位仪、超声法纳米粒度仪
- 光学接触角测量仪、表/界面张力仪
- 比表面及孔隙度分析仪、物理/化学吸附仪
- 压汞仪、通孔孔径分析仪
- 全自动真密度分析仪
- 元素分析仪、总氮/蛋白质分析仪
- 总有机碳(TOC)分析仪
- 总有机卤素分析仪、硫氮氯分析仪
- 密度计/旋光仪/折光仪/糖度仪
- 稳定性分析仪(多重光散射仪)、扩散波光谱仪(光学微流变)、微量视频粘度计
- X射线荧光光谱仪(EDXRF)、显微CT(XRM)
- 纳米颗粒跟踪分析仪
- 水份活度仪
- 流式颗粒成像分析系统
- 全自动氨基酸分析仪
- 薄层色谱成像系统、自动点样仪
- 全自动反应量热仪
- 火焰光度计、氯离子分析仪
- 手持式拉曼光谱仪
- 粉体流动性分析仪、粉体振实密度分析仪、粉体剪切性能分析仪、粉体静电吸附性能分析仪
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