该客户是在上交所主板上市的公司,公司是集功率半导体器件设计研发、芯片加工、封装测试及产品营销为一体的国家级高新技术企业,公司经科技部、中科院等国家机构认证,被列为国家博士后科研工作站、国家创新型企业、国家企业技术中心、国家知识产权示范企业、国家级绿色工厂、CNAS国家认可实验室。该公司紧随市场发展,将积累多年的技术经验厚积薄发,引领技术前沿,开拓新兴领域。公司拥有4英寸、5英寸、6英寸、8英寸等多条功率半导体分立器件及IC芯片生产线。
Thetametrisis 是从希腊国家科学研究发展中心独立发展出来的高科技公司,主要技术是使用光学反射光谱分析法去精确量测单层和多层厚度以及折射率,厚度的量测范围从几纳米到微米级别。
FR-Ultra NIR N3是一款精确测量半导体以及介电材料超厚层的机器,有先进的光学期间,此款设备可以测量光滑或粗糙的膜层以及较厚的衬底。可以应用于厚玻璃的厚度测量(厚度可达1毫米,透明或雾面);晶圆厚度测量(像直径达12inch的单面和双面抛光晶圆)。此款型号的机器提供了单点测量和mapping测量模式适配不同客户的不同的需求。
全部评论(0条)
TS-150高精度主动减振平台
报价:面议 已咨询 278次
PhaseCam 4030动态激光干涉仪
报价:面议 已咨询 243次
LAS-P-VIS™ 定心仪(偏心仪)
报价:面议 已咨询 344次
LODAS™ – LI
报价:面议 已咨询 251次
LODAS™ – BI8Photomask Blanks缺陷检查装置
报价:面议 已咨询 257次
Delcom 非接触式电阻测试
报价:面议 已咨询 262次
DVIA-TDaeil 台式主动防振台
报价:面议 已咨询 253次
FSM 500TC高温薄膜应力及基底翘曲测试设备
报价:面议 已咨询 288次
①本文由仪器网入驻的作者或注册的会员撰写并发布,观点仅代表作者本人,不代表仪器网立场。若内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们立即通知作者,并马上删除。
②凡本网注明"来源:仪器网"的所有作品,版权均属于仪器网,转载时须经本网同意,并请注明仪器网(www.yiqi.com)。
③本网转载并注明来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。
④若本站内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱:hezou_yiqi
参与评论
登录后参与评论