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XPS线上答疑会丨5/24第三期,XPS复杂谱图分析专题来袭!

2022-05-17 10:09:18  来源:赛默飞世尔材料与结构分析 浏览量:256次
【导读】第三期我们特邀北京师范大学吴正龙教授继续为大家解决仪器分析方面的相关疑问。活动期间更有诸多好礼,快来报名参加吧!

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答疑会介绍

“ 

对于XPS(X射线光电子能谱),

你是否有这样的疑问XPS的测试深度是多少?定量准吗为什么我的材料里有元素没测出来我的数据处理对了吗… …

别担心!!!你要的答案统统在这里!

赛默飞全新推出系列的“XPS线上答疑会”,将通过线上直播的形式解答您留言提出的问题。第三期我们特邀北京师范大学吴正龙教授继续为大家解决仪器分析方面的相关疑问。活动期间更有诸多好礼,快来报名参加吧!


开堂第三讲

XPS复杂谱图分析

开讲时间

2022年5月24日(周二),15:00-16:30

开讲人


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吴正龙

教授

20多年来一直致力于北京师范大学测试中心X射线电子能谱分析、激光拉曼光谱分析、荧光光谱分析及相关教学工作;科研方面主要从事半导体材料、发光材料、功能薄膜材料的研究,在国内外发表40多篇科研论文。


报名方式

扫描下方二维码,即可进行直播预约。

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参与福利

本次直播最 后还将进行抽奖活动,随机挑出10名在线观众,送上由吴正龙老师翻译的“表面分析(XPS和AES)引论”丛书一本,望持续助力您的学习。


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标签:X射线光电子能谱
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