法国高端技术公司推出可测定长宽比的高分辨纳米粒度仪

       日前，法国高端技术公司（Cordouan Technologies）推出了一种超小型纳米颗粒测量解决方案——THETIS™ 高分辨纳米粒度仪。忒提丝（THETIS）是古希腊神话的海中仙女，是五十个海仙女姐妹的非官方领 袖。

       THETIS™将三种测量类型组合到了一台精致的小型仪器中，包括动态光散射（DLS）、去偏振动态光散射（DDLS）和具有连续多角度功能的静态光散射（SLS）。THETIS™还继承Vasco KinTM的特点，集成了独特的时间分辨相关技术，用于高分辨率实时测量。凭借这些特性，THETIS™第 一次实现了：

       l 时间分辨DLS (粒度分布及动力学)

       l DDLS (颗粒的长度、宽度和长宽比)

       l 连续多角度 SLS (颗粒分子量, 回转半径)

       THETIS™第 一次实现了在一台仪器中轻松测量胶体悬浮液中各向异性纳米颗粒的长度和宽度，成为表征所有类型的纳米颗粒（各向同性和各向异性）的Z通用和Z 强大的工具，为纳米颗粒的测量提供了Z广泛的应用范围。THETIS™代表了光散射纳米粒度分析技术的Z 新进步，成为DLS测量技术新的里程碑。

THETIS™ （忒提丝）三合一高分辨纳米粒度仪

       众所周知，动态光散射技术（Dynamic Light Scattering，DLS）是一种可快速、准确地测量溶液或者悬浮液中生物分子和纳米颗粒的流体力学半径的方法，然而传统的动态光散射法只能测量无偏振或垂直偏振方向上的散射光，得到颗粒平动系数，进而计算出颗粒直径。这种只适用于球形颗粒，无法测量短的碳纳米管及其他棒状纳米颗粒或链状高分子的长度。

THETIS™ （忒提丝）三合一高分辨纳米粒度仪原理示意图

       去偏振动态光散射技术（Depolarized Dynamic Light Scattering，DDLS）是近年来新出现的一种可测量颗粒二维信息的新方法。一般来说，光散射仪可以提供两种光散射检测模式：其一为VV模式，即仪器标准配置下的检测模式——采用垂直偏振的激光光源和无偏振的检测；其二是VH模式，即激光光源为垂直偏振光，但检测则在水平偏振方向上进行。VH模式下的测试又被称为去偏振动态光散射（DDLS）。DDLS是研究单分散各向异性体系的常用方法。通过DDLS，研究人员可以检测各向异性体系的旋转扩散系数，例如：棒状病毒在不同离子强度下的水溶液中的旋转扩散行为等等。DDLS可以测量棒状纳米颗粒和纤维的长度、宽度和长宽比，与电镜相比，不需要复杂的制样过程。由于不同粒度的颗粒在不同散射角度下散射特性不同，多角度测量可以获取更多的颗粒粒径的信息。因此，多角度动态光散射技术比单角度测量技术在反演双峰粒度分布方面具有明显优势。THETIS™可在不同角度同步检测VV和VH，极大地拓展了应用空间。

       静态光散射 (SLS)是通过检测不同浓度样品的散射光强的角度依赖性，计算重均分子量(Mw)，均方根回旋半径(Rg)，第二维利系数(A2)。结合同步测量的动态静态光散射结果，可以计算单一浓度样品的形状因子，用于大分子的构象研究。

THETIS™ （忒提丝）三合一高分辨纳米粒度仪高级功能和直观菜单

       1-时间分辨DDLS； 

       2-VV和VH测量  

       3-用户选择/自动散射角度设置；

       4-自动计算长度、宽度和长宽比 / 旋转和平移扩散系数测量值

       THETIS™依然秉承了她的前辈AMERIGO、MAGELLAN和VASCO出色的工业设计传统，完全的法国设计和生产，实现强大测量功能的同时，兼顾了外观设计上的优雅、紧凑和便捷。其主要特点和优点是：

       DLS、SLS和DDLS测量模式三合一

       30°至150°的多角度散射检测系统

       VV和VH两个偏振方向同时检测

        粒度、长宽比、长度和宽度测量

       分子量测量

       动态粒度分布测定-动态时间切片和数据分析功能

       增强型数据处理算法：多峰连续算法（MCA），多峰离散算法（MDA），以及标准累积量算法

       占地面积小

       THETIS™可应用在以下领域：

       化学化工：各种聚合物、胶束、超高分子的表征，包括粒度分布

       石油化工：各种高分子添加剂、驱油剂、表面活性剂表征和研究

       生物医药：

       药物聚集即稳定性研究；

       蛋白质、多肽、及多糖的表征；

       病毒、抗原和抗体的表征和相互作用

       微乳液聚合过程及反应机理研究

       解聚大分子自组装过程的动力学研究

       先进材料：碳纳米管和碳纤维的长度和宽度测定

       仪思奇（北京）科技发展有限公司致力于颗粒特性表征的先进仪器和技术的推广和开发，是比利时欧奇奥（Occhio）图像法粒度分析仪和美国分散技术公司（DT）超声粒度和zeta电位分析仪的总代理。作为中国区总代理，仪思奇（北京）科技发展有限公司已经与法国高端技术公司建立了深度合作的关系。欲了解更加详细的信息，请致电仪思奇科技：

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