涂层膜厚仪测量注意事项

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【导读】涂层膜厚仪测量注意事项 a)基体金属特性对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。 b)基体金属厚度：检查基体金属厚度

涂层膜厚仪测量注意事项

a)基体金属特性对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
b)基体金属厚度：检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，进行校准后，可以测量。
c)边缘效应：不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。
d)曲率：不应在试件的弯曲表面上测量。
e)读数次数：通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此L170 涂层测厚仪必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。
f)表面清洁度：测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。
g)磁场：周围各种电气设备所产生的磁场会严重干扰磁性测厚工作
h)测头取向：测头的放置方式对测量有影响，在测量时应该与工件保持垂直

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2007-03-16 13:13:55

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