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美国海洋光学 Sphere-3000 光学元件反射率测量仪
- 品牌：美国海洋光学
- 型号： Sphere-3000
- 产地：美国
- 供应商报价： 面议
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蔚海光学仪器（上海）有限公司
更新时间：2023-04-25 14:10:34 -
企业性质
入驻年限第4年
营业执照
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- 详细介绍
产品介绍：
Sphere-3000光学元件反射率测量仪，能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/jue对反射率，适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量，还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。
仪器特点：
CIE颜色测定 X Y色度图，x，y，L,a,b，饱和度，主波长等；
显微测定微小区域的反射率，物镜对焦于被测物微小区域（φ60μm）；
消除背面反射光，无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率；
技术参数：
Sphere-3000（II型） Sphere-3000（III型） Sphere-3000-NIR 探测器 Hamamatsu背照式2D-CCD Hamamatsu背照式2D-CCD(制冷) Hamamatsu InGaAs探测器(制冷) 检测范围 380~1100nm 380~1100nm 900~1700nm 波长分辨率 1nm 1nm 3nm 信噪比 450:1 1000:1 10000:1 相对检测误差 ＜0.75% ＜0.5% ＜0.5% 被测物再现性 ±0.1%以下(380nm~410nm)
±0.05%以下(410nm~900nm)±0.1%以下(380nm~400nm)
±0.05%以下(400nm~900nm)±0.1%以下
（1000~1650nm）测定方法 与标准物比较测定 单次测量时间 ＜1s 精度 0.3nm 被测物N.A 0.12(使用10×对物镜时) 0.24(使用20×对物镜时) 被测物尺寸 直径>1mm 厚度>1mm(使用10×对物镜时)
厚度>0.5mm(使用20×对物镜时)厚度>0.1mm(使用50×对物镜时)被测物测定范围 约φ100um(使用10×对物镜时) 约φ60um(使用20×对物镜时)
约φ30um(使用50×对物镜时)设备重量 约22kg（光源外置） 设备尺寸 300(W)×550(D)×570(H)mm 使用环境 水平且无振动的场所；温度：23±5℃；湿度：60％以下、无结露； 操作系统 Windows7~Windows10 软件 分光反射率、物体颜色、单层膜厚(有干涉条纹)和镀膜(有干涉条纹)折射率测定 - 产品优势
- Sphere-3000光学元件反射率测量仪，能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/JD反射率，适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量，还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。
