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日本日立 荧光分布成像系统EEM View
- 品牌:日本日立
- 型号: EEM View
- 产地:日本
- 供应商报价: 面议
- 日立科学仪器(北京)有限公司 更新时间:2024-02-26 14:29:54
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企业性质生产商
入驻年限第7年
营业执照已审核
- 同类产品瞬态/稳态荧光/激光闪光光解光谱仪(6件)
联系方式:日立科学仪器400-855-8699转8089
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- 日本日立 荧光分布成像系统EEM View 核心参数
- 详细介绍
一、荧光分布成像系统(EEM View)简介
作为荧光分光光度计的配件系统,这是全球SC将相机与荧光分光光度计的wan美结合,融合了智能算法的先进技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。
新型荧光分布成像系统可安装到日立F-7000/71000荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球漫反射后均匀照射到样品,利用荧光光度计标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱,积分球下方的CMOS相机可获得样品图像,并利用特的AI光谱图像处理算法,可以同时得到反射和荧光成分图像。
二、 荧光分布成像系统特点:
1. 可以全面测定样品的光谱数据(反射光、荧光特性)
在不同光源条件下(白光和单色光)拍摄样品图像,(区域:Φ20mm、空间分辨率:0.1 mm左右、波长范围:360-700nm),同时利用先进的光谱算法,分别显示荧光图像和反射图像, 根据图像可获得不同区域的光谱信息(荧光光谱、反射光谱)
荧光分布成像系统软件分析(EEM View Analysis)界面(样品:LED电路板)
2. 样品安装简单,适用于各种样品测试
样品只需摆放到积分球上,安装十分简单!
丰富的样品支架
荧光分布成像系统是一种全新的技术,将它配置到荧光分光光度计中,改变了常规荧光光度计只能获得样品表面区域平均化信息的现状,可以查看样品图像任意区域的光谱信息,十分适合涂料、材料、油墨、LED、化工等领域。
- 产品优势
- 作为荧光分光光度计的配件系统,这是全球SC将相机与荧光分光光度计的WM结合,融合了智能算法的先进技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。
色散单元: | 光栅 |
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