美国TA仪器 Peltier 上板

产品介绍：

帕尔贴上板(Upper Peltier Plate, UPP)

特点和优势

• ZG热扩散器技术可将热量直接传导到样品上，从而使样品内温度均匀，消除测量误差

• 联合 Peltier 实现快速的温度响应，可提高生产力

• 配置简单有序，温控范围你较宽（从-40°C 到 150°C），无需液氮或机械冷却器

• 使用ZG ATC* 直接测量样品温度，与ETC和FCO炉的测试数据可实现高度的重现。

• 保护样品不受环境影响：

• 溶剂池**：防止液体样品和挥发性样品的挥发

• 热屏蔽：防止湿气凝结

• 气体吹扫端口：引入惰性气氛防止样品降解

• 与附加配件兼容，满足各种测试需求：

• 所有 Peltier 板*

• 模块化显微镜 (MMA)

• 光学板附件 (OPA)

*一次性和拧入式可抛板可采用UHP（无ATC）

**选配

技术

UPP 创新的 Peltier 元件设计zui大限度地提高了温度响应速度，并在无需液氮或昂贵的流体循环器配置的情况下打开了环境温度以下的测试通道。无论是设计温度梯度、温度斜坡还是创建复杂的温度变化程序来模拟加工条件，UPP 的快速温度响应都将满足您的测试需求。

TA ZG主动温度控制 (ATC) 提供非接触式温度传感，可主动测量和控制测试上表面。PRT 直接放置于在样品之上，与上部夹具的zhong心紧密贴合。无需复杂的校准程序和补偿数据表。配合 Peltier 下板上的 PRT，DHR 可以以相同的速率改变样品上方和下方的温度，从而获得真实的温度斜坡曲线和数据精度。ATC 技术使得使用 UPP 获得的数据与使用其他温度系统(如 ETC 炉)获得的数据一致。

TA 的ZG热扩散器技术将热量直接传导到样品上，从而确保了垂直和径向的样品温度均匀。与同类竞品不同，该技术在所有测试间隙下都可以提供精确的测量，这对于样品装载和样品制备选择十分方便，尤其是较厚的样品。

这些技术协同工作，实现了快速准确的温度控制，在不影响测量精度的情况下提高了生产率。