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日立 原子力显微镜 AFM100 Plus

创新点

联系方式:日立科学仪器400-898-1021

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日立 原子力显微镜 AFM100 Plus 核心参数
仪器分类: AFM
详细介绍


追求操作性的原子力显微镜 AFM100Plus

——提高总处理量和可靠性

背景

过去,操作AFM的工序繁琐,不仅要用镊子夹住装有探针且宽度约为1mm的悬臂,将其设置在装置上,还要在悬臂前端探针扫描样本表面时进行接触状态控制和扫描速度调整等步骤。因此,从开始测量到获取数据,其间的总处理量较低。测量人员的操作熟练程度和使用感觉差异会导致测量条件设置不同,继而引发所获得的数据产生差异等问题。


产品特色

日立高新技术此次开发的原子力显微镜 AFM100Plus旨在解决上述问题,推动具有高操作性的AFM装置在工业领域和科学研究开发领域实现普及。通过使用AFM100Plus,任何人都能轻松且稳定地获取可靠数据,从而完成从科学研究用途到质量管理中的日常作业。


采用新开发的预装方式悬臂可进行一键更换(提高操作性和可靠性)(选配功能)


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配备自动向导功能可以一键检测分析(提高处理量)


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通过“AFM标记功能”(选配)可以在同一视野下进行 SEM-EDS 评估

通过小型通用 AFM 评估与 SEM 相同位置的支持工具

・ 导航软件自动AFM标记功能


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应用领域

使用前端直径为数纳米(1纳米:百万分之一毫米)的尖锐探针扫描样品表面,可同时实现纳米级别的样品表面的形貌观察和物性映射评估。日立 原子力显微镜 AFM100Plus 可应用于电池材料、半导体、高分子、生物材料等各个领域的科学研究开发和质量管理。从观察石墨烯和碳纳米纤维等纳米材料,到超过0.1 mm的大范围3D形貌观察、粗糙度分析、物性评估等领域。


规格


项目AFM100 Plus
检测系统光杠杆法 SLD(超辐射发光二极管)
样品架预安装支架、多支架
基本规格RMS噪音水平:≦0.03 nm、基线漂移:≦0.03 nm/sec
样品尺寸最大35 mmφ、厚度10 mm、选配扩展时(最大50 mm方形、厚度20 mm)
扫描器(扫描范围)(XY:20 µm/Z:1.5 µm、XY:100 µm/Z:15 µm、XY:150 µm/Z:5 µm)(5年保修)
光学显微镜

多功能变焦显微镜

(视野XY:1.8×1.38~0.26×0.2 mm)
普通光学显微镜
(视野XY:1.6×1.2 mm)
基本功能AFM、DFM、PM、FFM、SIS-形状/物性、Q值控制
隔振・隔音方式被动气浮隔振台・隔音罩
样品载物台手动载物台 XY:±2.5 mm、移动载物台(导电型)
测试环境空气、液体、加热(室温~250℃)、液体加热※(室温~60℃)
其他功能自检功能、软件下载服务、AFM标记
电源规格AC 100 V±10 V、15 A、1系统、D种接地 接地插座

※ 表中※标注部分为可选配置。

* 详细规格请查看产品规格。

基本规格值必须符合安装环境标准。


日立高新技术今后也会继续提供以本产品为代表的创新解决方案,与客户携手创造全新社会及环境价值,为zui尖 端的产品制造作出贡献。


产品优势
1.提高了操作性、可靠性及总处理量;

2.提高了与本公司SEM装置的亲和性; 

3.实现装置的扩展性和持续性。

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