日立 原子力显微镜 AFM100 Plus

追求操作性的原子力显微镜 AFM100Plus

——提高总处理量和可靠性

过去，操作AFM的工序繁琐，不仅要用镊子夹住装有探针且宽度约为1mm的悬臂，将其设置在装置上，还要在悬臂前端探针扫描样本表面时进行接触状态控制和扫描速度调整等步骤。因此，从开始测量到获取数据，其间的总处理量较低。测量人员的操作熟练程度和使用感觉差异会导致测量条件设置不同，继而引发所获得的数据产生差异等问题。

产品特色

日立高新技术此次开发的原子力显微镜 AFM100Plus旨在解决上述问题，推动具有高操作性的AFM装置在工业领域和科学研究开发领域实现普及。通过使用AFM100Plus，任何人都能轻松且稳定地获取可靠数据，从而完成从科学研究用途到质量管理中的日常作业。

采用新开发的预装方式悬臂可进行一键更换（提高操作性和可靠性）（选配功能）

配备自动向导功能可以一键检测分析（提高处理量）

通过“AFM标记功能”（选配）可以在同一视野下进行 SEM-EDS 评估

通过小型通用 AFM 评估与 SEM 相同位置的支持工具

・ 导航软件自动AFM标记功能

应用领域

使用前端直径为数纳米（1纳米：百万分之一毫米）的尖锐探针扫描样品表面，可同时实现纳米别的样品表面的形貌观察和物性映射评估。日立 原子力显微镜 AFM100Plus 可应用于电池材料、半导体、高分子、生物材料等各个领域的科学研究开发和质量管理。从观察石墨烯和碳纳米纤维等纳米材料，到超过0.1 mm的大范围3D形貌观察、粗糙度分析、物性评估等领域。

※ 表中※标注部分为可选配置。

* 详细规格请查看产品规格。

基本规格值必须符合安装环境标准。

日立高新技术今后也会继续提供以本产品为代表的创新解决方案，与客户携手创造全新社会及环境价值，为zui尖 端的产品制造作出贡献。