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Thermo Scientific™ MK.1 低脚数静电放电和闩锁测试系统

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详细介绍

产品介绍:

作为一种gao效且经济实惠的整套系统,MK.1 低管脚数静电放电和闩锁测试系统可直接替代 KeyTek ZapMaster 系统。MK.1 系统可执行符合业内针对滞后脉冲相关要求的 ESD 测试。本系统还提供高阻抗管脚测试功能,通过在加压过程中采用 10K 分流器,可消除 ESD 放电之前产生的任何预放电电压斜升现象。

测试器件的管脚数高达 256:
可提供配置有 64、128、192 或 256 个管脚的系统;可现场升级。其他功能,更快速的通量,多点测试。

基于继电器的操作:
支持比自动化测试仪快 5 到 10 倍的测试速度 

用于改进闩锁功能的电源定序:
更多的应用灵活性可满足针对集成式系统级芯片设计的更为复杂测试的需求 

事件触发器输出:
使用定制的范围触发器功能对设置分析进行管理。使外部设备位于测试序列的可选位置内的信号。

人体模型 (HBM):
按照 ESDA/JEDEC JS-001-2012、MIL-STD 883E 和 AEC Q100-002 规定的 30V 到 8kV 测试标准。
可在一套集成系统中进行符合多项行业标准的测试,无需更换或安排多个脉冲源。 

机器模型 (MM):
按照 ESDA STM5.2、JEDEC EIA/JESD22-A115 和 AEC Q100-003 规定的 30V 到 1kV 测试标准。
静态闩锁测试采用的集成式脉冲源可快速执行多点测试。

静态闩锁测试:
按照 JEDEC EIA/JESD 78 和 AEC Q100-004 测试标准。可选的静态闩锁测试允许使用嵌入的偏压配件进行 DUT 管脚控制。 

多达 4 个独立的 V/I 配件:
DUT 电源、曲线追踪以及带有 4 线矩阵传感器的闩锁测试激发源可实现高精确度。系统设计还具有高电流通过 V/I 结构的功能。

多个自测诊断程序:
确保系统在包括测shi用插座在内的整个继电器矩阵中的完整性。

测试报告:
预应力、故障前 (ESD) 和故障后数据以及完整曲线追踪和特定数据点的测量。数据可导出用于统计评估和演示。 

不同的管脚参数:
方便用户分别定义每个管脚的 V/I 水平、合规范围和曲线追踪参数。 

其他特点:

  • 按照zui新的 JEDEC EIA/JESD 78 测试方法提供可选的闩锁测试

  • 使用继电器矩阵提供高可重复性及可重现性测试数据

  • 允许从旧款 Thermo Scientific ESD 测试仪平台导出现有的测试计划和器件文件

  • 允许直接使用现有的 ZapMaster 测试固定装置,并提供简单的固定装置转换导入功能

  • 提供与 ZapMaster 测试系统类似的故障分析工具—可选的曲线比较/相对电流泄漏测量



产品优势
确保您的低管脚数微控制器可承受任何人体模型 (HBM) 和机器模型 (MM) 静电放电事件。Thermo Scientific™ MK.1 低管脚数静电放电和闩锁测试系统是一款占地面积小且易于使用的静电放电模拟器,适用于对高达 256 管脚数的器件进行高产量测试。系统按照业内对滞后脉冲的相关要求、JEDEC 标准及其他要求执行测试。因此,不管是什么样的ZZ应用,无论是小型家电、消费类保健品、汽车用电子设备,还是功率晶体管,都可以确保您的组件符合法规标准。
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