Thermo Scientific™ MK.4 静电放电和闩锁测试系统

产品介绍：

对电子电器产品的静电放电和闩锁测试可能会成为设计与制造过程中非常耗费成本的环节。当体积更小、反应更快速、更智能的产品成为标准的市场需求而非特例时尤其如此。MK.4 静电放电和闩锁测试系统充分利用了我们从过去三十多年的测试系统经验中获取的技术与专业知识，以及我们对管理相关要求变更的国际监管机构的深入参与与贡献，使我们的产品同时符合国际及行业要求的质量标准。
 

基于快速继电器的操作：
提供比机械驱动的静电放电测试仪至少快  10 倍的超高速。 

切换矩阵：
提供一致的静电放电路径，可将任何管脚接地、浮接、矢量化或连接至安装的任何 V/I 配件。 

先进算法： 
确保高压电源的准确切换，按照zui新的 JEDEC/ESDA 滞后脉冲标准支持脉冲源技术。

人体模型：
按照 ESDA/JEDEC、JS-001-2012、MIL-STD 883E 和  AEC Q100-002 规定的 25 V 到 8 kV（步进电压 1 V）测试标准。可在一套集成系统中进行符合多项行业标准的测试；无需更换或安排多个脉冲源。

机器模型：
按照 ESDA STM5.2、JEDEC/JESD22-A115 和 AEC Q100-003 规定的 25 V 至 1.5 kV（步进电压 1 V）测试标准。集成式脉冲源可快速执行多点测试。

闩锁测试：
按照 JEDEC/JESD 78 测试管脚及 AEC Q100-004 测试标准。包括对每个测试管脚进行预处理、状态回读和全面调节。 基于标准测试仪平台及参数测定的闩锁测试矢量输入/导出功能。

事件触发器输出：
使用定制的范围触发器功能对设置分析进行管理。 

多达八个独立的 V/I 配件（1 个激发配件和 7 个偏压配件）：
提供高精度 DUT 电源、曲线追踪和闩锁激发源；系统还设计了高电流通过 V/I 矩阵的功能。

多个自测诊断程序：
确保系统在包括测shi用插座在内的整个继电器矩阵中的完整性。

测试报告： 
预应力、故障前 (ESD) 和故障后数据以及完整曲线追踪和特定数据点的测量。数据可导出用于统计评估和演示。

不同的管脚参数：
方便用户分别定义每个管脚的 V/I 水平、合规范围和曲线追踪参数。

其他特点：

• 固态矩阵拓扑可实现快速简单的测试操作 

• 6 个独立的电压矢量水平支持轻松测试复杂的 I/O 和多核产品

• 提供闩锁激发源和器件偏压 

• 通过 6 个独立的矢量激励电平，实现高级器件预处理 

• 支持一次性对多达 12 个器件进行 ESD 测试，同时对 8/4 器件平行执行曲线追踪。

• 根据需要管理辅助测试设备，以实现自动化测试 

• 提供灵活的编程、易于使用的自动化测试设置以及 TCP/IP 通讯

• 全面的工程矢量纠错提供应用灵活性