-
-
-
Filmetrics 光学膜厚测量仪
- 品牌：美国Filmetrics
- 型号： F60-UV F60-UVX F60F60-EXR F60-
- 产地：美国
- 供应商报价： 面议
-
优尼康科技有限公司
更新时间：2024-02-04 16:07:14 -
企业性质授权代理商
入驻年限第6年
营业执照已审核
- 同类产品Filmetrics膜厚测量仪(17件)
联系方式：李扬400-186-8882
联系我们时请说明在仪器网（www.yiqi.com）上看到的!
-
为您推荐
- 详细介绍
美国Filmetrics 光学膜厚测量仪 F60-C膜厚测量仪
自动化薄膜厚度分布图案系统
F60-c 光学膜厚测量仪先进的薄膜光谱反射系统，可以很简单快速地获得薄膜的厚度及 n&k， 采用 r-θ 极坐标移动平台，可以在几秒钟的时间内快速的定位所需测试的点并测试厚度， 可随意选择一种或极坐标形、 或方形、或线性的图形模式，也可以编辑自己需要的测试点。 针对不同的晶圆尺寸，盒对盒系统可以很容易的自动转换，匹配当前盒子的尺寸。 49点的分布图测量只需耗时约 45秒。可测样品膜层
基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。例如氧化硅 氮化硅 类金刚石 DLC
光刻胶 聚合物 聚亚酰胺
多晶硅 非晶硅 硅免费现场演示/支持
点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示！请联系我们，我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易
- 产品优势
- F60-c 光学膜厚测量仪先进的薄膜光谱反射系统，可以很简单快速地获得薄膜的厚度及 n&k， 采用 r-θ 极坐标移动平台，可以在几秒钟的时间内快速的定位所需测试的点并测试厚度， 可随意选择一种或极坐标形、 或方形、或线性的图形模式，也可以编辑自己需要的测试点。 针对不同的晶圆尺寸，盒对盒系统可以很容易的自动转换，匹配当前盒子的尺寸。 49点的分布图测量只需耗时约 45秒。
