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QE-2000荧光量子效率测试系统

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详细介绍

  • QE-2000瞬间测量绝对量子效率。适用于粉末、溶液、固体(膜)、薄膜样品的测量。通过低杂散光多通道分光检出器,大大减少了紫外区域 的杂散光。另采用了积分半球unit,实现了明亮的光学系的同时,运用其再激发荧光補正的优点,可进行高精度的测量。

  • 高精度测量(专利:5150939号):使用低杂散光光谱仪MCPD系列

  • 多次激发补正(专利:3287775号、4631080号):最大程度降低样品所反射的激发光再次照射样品带来的多次激发, 对粉末和固体测试精度提 高明显

  • 使用积分半球(专利:4216314号):是普通积分球测试效率的2倍,更易于样品的装夹,更换简单

  • 多种样品都能对应:粉体、溶液、薄膜、固体等等

  • 可添加温控系统:-30~300℃

型号

3683C

311C

2580C

3095C

波长范围

360-830nm

360-1100nm

250-800nm

300-950nm

像元波长宽度

1.0nm

0.5nm

1.6nm

0.8nm

1.2nm

0.6nm

1.4nm

0.7nm

像元数

512

1024

512

1024

512

1024

512

1024

CCD

电子冷却式CCD图像传感器

AD转换精度

16 bit

单色器配置

F/#=3, f=85.8mm

光源

150W氙灯

激发波长

250-800nm

带宽

FWHM 5nm/slit 0.6mm

样品抗光装置

自动关闭装置

激发波长控制

自动控制

积分球材质

Spectralon(美国Labsphere公司专利材料名)

尺寸

150mm 半球

粉末测试样 品座

SU304

溶液样品池

石英制溶液比色皿


产品优势
QE-2000瞬间测量绝对量子效率。适用于粉末、溶液、固体(膜)、薄膜样品的测量。通过低杂散光多通道分光检出器,大大减少了紫外区域 的杂散光。另采用了积分半球unit,实现了明亮的光学系的同时,运用其再激发荧光補正的优点,可进行高精度的测量。
高精度测量(专利:5150939号):使用低杂散光光谱仪MCPD系列
多次激发补正(专利:3287775号、4631080号):最大程度降低样品所反射的激发光再次照射样品带来的多次激发, 对粉末和固体测试精度提 高明显
使用积分半球(专利:4216314号):是普通积分球测试效率的2倍,更易于样品的装夹,更换简单
多种样品都能对应:粉体、溶液、薄膜、固体等等
可添加温控系统:-30~300℃
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