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低成本光学链路诊断系统OLI
- 品牌:东隆科技
- 型号: OLI
- 产地:武汉
- 供应商报价: 面议
- 武汉东隆科技有限公司 更新时间:2024-02-29 13:36:26
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企业性质授权代理商
入驻年限第5年
营业执照已审核
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- 标签: 光纤微裂纹诊断仪OLI 光学链路诊断仪OCI 东隆科技
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- 详细介绍
产品特点
超高采样分辨率和定位精度
采样分辨率1 μm
回损测量范围-10 dB~90 dB
可定制引纤长度,便于匹配实际测量环境
可定制扫描测量长度
支持多通道测量升级
主要应用光纤微裂纹检测
硅光芯片、PLC波导瑕疵损耗检测
FA光纤阵列链路性能检测
光器件、光模块内部耦合点、连接点性能检测
参数
主要参数
基础参数
工作波长1
1290~1330/1530~1570
nm
测量长度2
6 12 45 90
cm
采样分辨率
1
μm
定位精度
0.3
mm
测量时间3
<10s <30s
s
回损测量范围
-20~-100
dB
回损重复精度
±3
dB
硬件
输入电压
AC 220/110V;DC 12V
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主机功率
60
w
通讯接口
USB
-
引纤长度4
1
m
光纤接口
FC/APC
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尺寸
W 345 * D 390 * H 165
mm
重量
7.5
kg
储藏温度
0~50
℃
工作温度
0~40
℃
工作湿度
10~70
%RH
备注: 1.可选其它波段; 2.可定制其他长度;3.测量时间与测试长度相关 4.引纤长度可定制。
- 产品优势
- OLI是一款低成本高精度光学链路诊断系统。其原理基于光学相干检测技术,利用白光的低相干性可实现光纤链路或光学器件的微损伤检测。通过读取最终干涉曲线的峰值大小,精确测量整个扫描范围内的回波损耗,进而判断此测量范围内链路的性能。
该系统轻松查找并精准定位器件内部断点、微损伤点以及链路连接点。其事件点定位精度高达几十微米,最低可探测到-80dB光学弱信号,广泛用于光纤或光器件损伤检测以及产品批量出货合格判定。 - 产品文章
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