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原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU
- 品牌:美国Semiconsoft
- 型号: MPROBE 50 INSITU
- 产地:美国
- 供应商报价: 面议
- 上海昊量光电设备有限公司 更新时间:2024-04-17 15:27:18
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企业性质授权代理商
入驻年限第4年
营业执照已审核
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- 详细介绍
MPROBE 50 INSITU – 实时薄膜厚度测量仪
原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU用于测量薄膜厚度和 n&k(光学常数)的实时光学测量仪。该系统可以在高环境光下工作,因为它使用门控数据采集。原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU使用高强度闪光氙灯在宽带 ( UV-NIR) 波长范围内进行精确测量。MProbe 50 系统是完全可定制的,以支持不同的真空室几何形状。原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU根据可用的光学端口,可以使用斜入射或垂直入射。光可以聚焦在样品表面或准直。反射探头可以放置在沉积室光学端口的外部或内部(使用光纤馈通)。MProbe 50 系统没有活动部件。典型测量时间~10ms。可以快速可靠地测量任何半透明薄膜。
原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU优势:
1.原位薄膜厚度和 n&k 测量
2.用于高环境光环境下测量的门控数据采集
3.材料:500+ 扩展材料数据库
4.连续、快速和可靠的测量
5.灵活的配置——完全定制以匹配沉积室的几何形状
原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU选型列表:
MProbe50
波长范围
厚度范围
VIS
400nm -1100nm
15nm – 20 μm
HRVIS
700nm-1000nm
1μm-400μm
NIR
900nm-1700nm
100nm – 200μm
UVVisF
200nm -900nm
1nm – 20μm
UVVISNIR
200nm-1700nm
1nm -200μm
XT
1590nm -1650nm
10μm-1mm
- 产品优势
- 真空光学无接触薄膜厚度测量