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手持式膜厚测量仪-MProbe 20 HC(弯曲表面)
- 品牌:美国Semiconsoft
- 型号: MProbe 20 HC
- 产地:美国
- 供应商报价: 面议
- 上海昊量光电设备有限公司 更新时间:2024-04-17 15:27:18
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企业性质授权代理商
入驻年限第4年
营业执照已审核
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联系方式:贺先生156-01689581
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- 详细介绍
手持式膜厚测量仪-MProbe 20 HC(弯曲表面)
手持式膜厚测量仪-MProbe 20 HC(弯曲表面)基于MProbe 20 平台可以轻松测量曲面和大型零件的薄膜厚度,MProbe 20 具有专为单层和双层应用优化的数据分析算法。它还使用手动探针代替样品台。手动探头通过光纤电缆连接到测量单元。这为在任何位置的弯曲和大表面上测量厚度提供了灵活性。一些应用实例包括:抗紫外线和头灯,保险杠,尾灯盖的硬涂层,防雾涂层上的透镜和其他表面在汽车制造在眼镜镜片上进行加工和镀膜。标准手动探头用于测量 20mm 或更大的零件。可以使用定制探头测量小至10mm 区域的涂层厚度。对于较小或圆形/圆柱形零件的厚度测量,我们推荐MProbe 40 MSP系统。
手持式膜厚测量仪-MProbe 20 HC(弯曲表面)测量特点:1.支持底漆或界面 (IPL) 层;
2.曲面和/或大型零件的厚度测量;
3.可以测量有色产品,校正背面反射;
4.材料:500多种扩展材料数据库;
5.一键可靠测量。
手持式膜厚测量仪-MProbe 20 HC(弯曲表面)规格指标:
精度
0.01nm或0.01%
准确度
0.2%或1nm
稳定性
0.02nm或0.03%
聚焦点尺寸
0.2mm或0.4mm
样品尺寸
>20mm
厚度范围
0.05-70um
波长范围
400-1000nm
*可根据要求设计定制探头
- 产品优势
- 手持式,大件,弯曲表面膜厚测量——更简单,更可靠!