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高频介电常数测试仪

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详细介绍

GBT1409-2006

ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪

仪器介绍

ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的试验方法》(等效采用IEC60250)设计和制造的,并符合JB7770等试验方法。它适用于在高频(1MHz)下绝缘材料的测试。

技术参数

 ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪作为zuixin一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前国内最高的160MHzZJD-C介电常数及介质损耗测试仪采用了多项领xian技术:

1双扫描技术-测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。

2双测试要素输入-测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。

3双数码化调谐-数码化频率调谐,数码化电容调谐。

4自动化测量技术-对测试件实施Q值、谐振点频率和电容的自动测量。

5全参数液晶显示数字显示主调电容、电感、Q值、信号源频率、谐振指针。

6DDS数字直接合成的信号源-确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。

7计算机自动修正技术和测试回路zuiyou化使测试回路残余电感减至zuidi,彻底根除Q读数值在不同频率时要加以修正的困惑。

  ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪的创新设计,无疑为高频元器件的阻抗测量提供了wan美的解决方案,它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具,测量值更为精确,测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质,无须关注量程和换算单位。


主要技术特性

Q值测量范围

21023,量程分档:301003001000,自动换档或手动换档

固有误差

≤5%±满度值的2%(200kHz10MHz),≤6%±满度值的2%(10MHz160MHz

工作误差

≤7%±满度值的2%(200kHz10MHz),≤8%±满度值的2%(10MHz160MHz

电感测量范围

4.5nH140mH

电容直接测量范围

1200pF

主电容调节范围

18220pF

主电容调节准确度

120pF以下±1.2pF120pF以上±1

信号源频率覆盖范围

100kHz160MHz

频率分段(虚拟)

100999.999kHz19.99999MHz,1099.9999MHz100160MHz

频率指示误差

3×10-5±1个字


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