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布鲁克光学轮廓仪ContourX-200

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布鲁克光学轮廓仪ContourX-200 核心参数
仪器分类: 非接触式
详细介绍

ContourX-200光学轮廓仪融合了高级表征、可定制选项和易用性,可提供快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。该设备作为可用于计量的小尺寸系统,配置了大视场的5百万像素摄像头和新型电动XY载物台,可提供高性能的的2D / 3D高分辨率测量功能。


image.ContourX-500-3D-Optical-Profilometer-BRUKER.png


ContourX-200还配有业界先进的操作和分析软件Vision64。VisionXpress™提供了更易于使用的界面和简洁的功能,可访问多种预编程滤镜和分析工具,用于精密加工的表面,薄膜,半导体,眼科,医疗设备,MEMS和摩擦学等领域的测量分析。


测量与分析功能


·易于使用的界面,可快速准确地获得结果

·自动化功能用于日常测量和分析

·最广泛的滤镜和分析工具选项,用于粗糙度和关键尺寸测量分析

·满足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等标准在内的定制化分析报告


先进计量设备


·基于超过四十年的专有WLI创新,ContourX-200光学轮廓仪展现出定量计量所需的低噪声、快速、精度的准确结果。

·通过使用多个镜头和集成的特征识别功能,设备可以在各种视野内以亚纳米垂直分辨率跟踪特征,可用于各种不同行业中的质量控制和过程监控应用。

·ContourX-200对于反射率从0.05%到100%的各种表面都非常易于测量。


高性能表面计量 


·放大倍率无关的Z轴分辨率

·大尺寸的标准视场

·稳定集成防震设计


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