-
-
-
DLI-500日光积分测量仪（全光谱）
- 品牌：美国Apogee
- 型号： DLI-500
- 产地：美国
- 供应商报价： 面议
-
云生科技(北京)有限公司
更新时间：2023-04-14 16:23:22 -
企业性质生产商
入驻年限第3年
营业执照已审核
- 同类产品光照辐射测量仪(6件)
-
为您推荐
- 详细介绍
用途：Apogee 的新型 DLI-500 日光积分测量仪设计用于测量 400-700 nm 的光合有效辐射 (PAR)，并且在所有光源下都是准确的。如果您正在寻找在阳光和某些宽带光源下准确的低成本选项，请参阅我们的DLI-400 型号。除了测量 PAR，DLI-500 仪还计算日光积分 (DLI) 和光周期。
DLI-500 仪有两种不同的屏幕模式：存储数据和实时取景数据。
在存储数据屏幕中，它会显示 DLI 测量值、光周期以及收集数据的日期（最多 99 天前）。实时取景数据屏幕显示过去 2.5 秒的 PPFD 运行平均值。
技术参数：
测量重复性
小于 0.5 %
测量范围
0 至 4000 µmol mˉ² sˉ¹
长期漂移
每年少于 2%
视野
180°
光谱测量范围
(± 5 nm) 389 至 692
余弦响应
± 5 % 在 75˚ 天顶角
响应时间
2.5 秒
测量频率
3分钟
数据记录容量
99 天（DLI 和光周期），10 天（30 分钟 PPFD/ePPFD 平均值）
非线性
小于 1 %（最高 4000 µmol mˉ² sˉ¹）
存储数据分辨率 (PPFD)
0.1 µmol mˉ² sˉ¹（≥1000时屏幕不显示小数）
存储数据分辨率 (DLI)
0.1 mol mˉ² 天ˉ¹
存储数据分辨率（光周期）
0.1小时
连接性
Type--C 数据传输的 CSV 文件
ADC 分辨率
24 位
操作环境
-40 至 70 ℃；0 至 100 % 相对湿度
电池寿命
6个月
重量
67g
