-
-
-
便携式闪存智能测试平台
- 品牌：深圳置富
- 型号： FT-N008B
- 产地：深圳
- 供应商报价： ¥ 390000 （市场参考价：¥ 390000）
-
置富科技（深圳）股份有限公司
更新时间：2023-03-21 14:47:52 -
企业性质生产商
入驻年限第3年
营业执照已审核
- 同类产品芯片检测仪器(3件)
-
为您推荐
- 详细介绍
设备组成
名称
规格
数量
主 体
测试板
PCBA_XC7Z030_NAND_TEST_V1.0_B_Rohs
1
外壳
FT-N008B 黑色
1
外箱
闪存质量等级检测仪手提箱
1
配 件
Micro-USB 线
Micro-USB 通用
1
真空吸笔
便携式防静电
1
网线
双绞网线 2m
1
电源
12V 直流电源适配器
1
闪存规格限位框
12mm*18 mm（测试底座内置）
8
闪存规格限位框
14mm*18 mm
8
系统安装 U 盘
32GB
1
软 件
闪存筛选方法软件 V1.0.0
1
NAND 闪存自动化测试分类与寿命预测系统 1.0
1
产品功能
产品功能
基础测试
芯片信息识别
实时功耗测试
误码率测试
平均擦除时间测试
平均编程时间测试
坏块数测试
坏块容量测试
剩余可用容量测试
闪存等级划分
剩余寿命预测
一键导出测试报告
实验测试
最大错误数测试
平均擦除时间测试
平均编程时间测试
闪存错误数变化绘图
实际可擦写次数测试
最大页面错误数变化测试
擦除时间变化测试
编程时间变化测试
高阶测试
测试电压拉偏
设置测试范围（块间隔）
ECC 设定
挑选测试 pattern
Read-retry
数据保持
读干扰
- 产品优势
- 闪存芯片智能测试系统 FT-N008B 是一种可以量身定制测试方案的综合闪存测试系统，系统并行测试闪存颗粒数量最多可达 8 颗。
闪存芯片智能测试系统 FT-N008B 支持多种测试 pattern 及自定义测试参数功能，提供一键式基础测试流程、高灵活性的实验测试及高阶测试流程，可以实现闪存颗粒剩余 寿命预测、实测、数据保持和读干扰等多种功能性测试，帮助用户检验闪存颗粒的可靠 性状态，完成测试后可以方便快捷地一键导出测试报告，为用户提供最直观的图形化测 试数据，为闪存颗粒等级分类和应用提供最精确的参考依据，并基于闪存颗粒品质检测 结果实现智能分级。
