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SR-750超高分辨率光谱仪

联系方式:市场部13810146393

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详细介绍
结合创新型的光学器件设计,SR-750 配合Andor 公司的各型高性能光谱专用CCD/ICCD,可以非常方便进行空间多点光谱的同时采集与测量。SR-750 可以配用多种附件,拓展应用领域, 在透射/ 反射/ 吸收光谱、Raman 光谱、荧光光谱、激光诱导解离光谱等实验中,提供*佳的系统解决方案。
SR-750超高分辨率光谱仪主要特点:
• 分辨率*高可达0.02nm
• 多路光谱优化光路,低串扰,高密度多路光谱探测
• 双探测器出口选项,可安装不同类型探测器满足不同实验需求
• 光学元件镀银选项,保证红外探测器更好的性能
SR-750超高分辨率光谱仪技术参数:

型号

Shamrock 750

焦距长度

750mm

通光孔径(F/#)

F/9.8

焦平面尺寸

30mm×14mm

光谱分辨率 @1200l/mm,500nm

0.04nm

光栅塔轮

三光栅

自动聚焦

-

TruResTM 分辨率增强选项

-

波长精度

0.03nm

波长重复精度

10pm

不同光栅对应的分辨率及覆盖带宽:

绿色: 无限制自由使用区域;黄色: 可能对系统分辨率产生影响; 红色: 对系统分辨率有影响

光栅效率曲线

简单四步选择光谱仪配置:

产品优势
R-750可以配用多种附件,拓展应用领域,在透射/反射/吸收光谱、Raman光谱、荧光光谱、激光诱导解离光谱等实验中,提供优质的系统解决方案。
技术资料
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