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粉尘二氧化硅红外光谱测定仪

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详细介绍

粉尘二氧化硅 光谱测定仪 BOK-780基本介绍


粉尘二氧化硅 光谱测定仪 BOK-780

 红外光谱仪扫描速度快傅里叶变换红外光谱仪是按照全波段进行数据采集的,得到的光谱是对多次数据采集求平均后的结果,而且完成一次完整的数据采集只需要一至数秒,而色散型仪器则需要在任一瞬间只测试很窄的频率范围,一次完整的数据采集需要十分钟至二十分钟。


 红外光谱仪操作软件包括基线校正,数据转换,多组分定量、曲线分峰拟合,H20/CO2自动补偿,吸光度透过率转换、 KK转换,标峰,四则运算,Y轴归一化功能,QC比较, 基础解析等功能;支持 CSV,SPA,DPT,TXT等等十几种格式;支持波数cm-1和波长um任意切换。

粉尘二氧化硅 光谱测定仪 BOK-780性能特点

Fourier变换仪器是在整个扫描时间内测量所有频率的信息,通常只要ls左右。因此,它可以用来测量不稳定物质的红外光谱仪。色散红外光谱仪仪只能在任何时刻观察一个非常窄的频率范围,通常需要8、15、30次完整扫描s等。,稳定的干涉仪系统干涉仪是FTIR的核心装置,其高精度扫描是高灵敏度测定的关键。BOK-780红外光谱仪采用稳定的无磨损的动镜驱动,使干涉仪的状态达到较为优化与稳定化。BOK-780红外光谱仪预热时间短,测定状 态稳定。另外即使在更换分束器时,也可自动地调整干涉信号至上佳状态。,当使用一定频率的红外聚焦照射分析样品时,如果分子中某个基团的振动频率与照射红外频率相同,图书馆会产生共振,从而吸收一定频率的红外,用仪器记录分子吸收红外的情况,从而得到充分反映样品成分特征的光谱,然后推测化合物的类型和结构。傅里叶变换红外光谱仪仪出现于20世纪70年代,是第三代非色散型红外吸收光谱仪,其光学系统的主体是迈克耳孙(Michelson)干涉仪。,出彩的防潮性能FTIR的干涉仪中,分束器部分较易吸附水汽受潮劣化,影响测定性能。BOKIR 100红外光谱仪在防潮性能方面采取了各种稳定措施。干涉仪内置电子自动除湿元件,除湿元件在待机电流(勿需开启光源)的作用的温度下降,光谱干 涉仪内的水汽凝结排到机体外面,降低光源损耗。BOK-780 红外光谱仪的干涉仪窗板采用镀膜KBr 窗口具有上佳的防潮性能。,漫反射红外光谱法是一种建立在涉及吸收和散射基础上的研究方法,特别适合于固体粉末样品的表面结构和表面吸附物种的测定。In Situ FTIR的实验系统一般由漫反射附件、原位池、真空系统、气源、净化与压力装置,加热与温度控制装置和FTIR光谱仪组成,该系统处理试样简单,既不需压片也不会改变样品形态,是一种较理想的原位分析方法。


产品优势
粉尘二氧化硅 光谱测定仪 BOKIR100可广泛用于医药、化工、食品、石化、珠宝、高分子、半导体、材料科学等行业,仪器扩展功能强,可以连接各种常规透射,漫反射、ATR衰减全反射、非接触式外反射等附件红外光谱分析仪哪里卖
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