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X荧光镀层厚度分析仪
- 品牌：上海关河
- 型号： iEDX-150T
- 产地：松江区
- 供应商报价： 面议
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关河仪器设备（上海）有限公司
更新时间：2021-03-15 09:24:37 -
企业性质生产商
入驻年限第8年
营业执照已审核
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- 标签： X荧光镀层厚度分析仪
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- X荧光镀层厚度分析仪 核心参数
- 详细介绍
采用非真空样品腔；
专业用于金属电镀镀层分析；
可同时分析镀层中的合金成分比列。
应用领域:
金属电镀镀层分析领域
技术指标：
>多镀层，1～6层>测试精度：0.01 um
>多次测量重复性误差<0.1％
>元素分析范围从铝(Al)到铀(U)
>测量时间：10-60秒
>Si-PIN探测器，能量分辨率为125±5电子伏特
>微焦X射线管50KV/1mA，钨靶，焦斑尺寸 75um
>7个准直器及6个滤光片自动切换
> XYZ三维移动平台，荷载为5公斤
> 高清CCD摄像头，精确监控位置
>多变量非线性去卷积曲线拟合>高性能FP/MLSQ分析
>平台移动范围 300(X)x300(Y)x25 (Z)mm
图谱界面：
>软件支持无标样分析
>超大分析平台和样品腔
>集成了镀层界面和合金成分分析界面
>采用先进的多种光谱拟合分析处理技术
>分析精度可达到0.01um
- 产品优势
- 采用非真空样品腔；
专业用于金属电镀镀层分析；
可同时分析镀层中的合金成分比列。 - 相关产品
| 仪器分类: | 凯氏定氮仪 | 仪器种类: | 便携 |
