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6Gs/s高速脉冲采集卡——飞行时间测量

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详细介绍

产品介绍:

Ndigo6G-12是一种用于采集短脉冲的混合ADC/tdc高速脉冲采集卡。高速脉冲采集卡结合了一个四通道瞬态记录器和一个四通道时间间隔分析仪。Ndigo6G-12特别适合于飞行时间应用(TOF系统),如激光雷达、飞行时间质谱、时间分辨单光子计数(tcspc)、多光谱飞行时间成像、荧光寿命成像显微镜(FLIM)等。结合脉冲形状信息(如面积或幅度),脉冲到达时间的测量精度可低至5ps。


4个通道,1600 Msps, 12位分辨率,可以独立记录或与两个或一个通道(s)组合,具有高达6400 Msps的更高动态范围。此外,Ndigo6G-12还包括4个分辨率为13 ps的TDC通道。


高速脉冲采集卡产品特色:

消零:检测超过一定阈值的脉冲,只获取相关数据,以大量减少需要复制和分析的数据量



ISPlay: inline;">高速脉冲采集卡可配置直流偏置:当获取单极脉冲时,将基线移到ADC范围的边缘,使动态范围翻倍。




灵活的效用函数:大量有用的细节可以帮助您使用蕞少的外部组件创建高度集成的设置。集成TiGer计时模式发生器可以提供数字脉冲模式来控制您的实验或内部触发器。使用门和否决函数与我们的门控逻辑。这也适用于跨通道或从一个灵活的触发矩阵的额外数字输入。




高速脉冲采集卡指标参数:

ADC通道  4
TDC通道  4
门控通道4
接口6x Lemo 00
单通道采样率6.4  Gsps
多通道采样率1.6Gsps
分辨率12   bits
蕞大带宽TBD
TDC bin宽  12  ps
TDC 双脉冲分辨率  typically 4ns
多次击发unlimited
组间死时间none
TDC读出速率  30   MHits/s
ADC读出速率  6000 MBytes/s
测量范围106   d
常规 start/stop  yes / yes
同步板卡总数8
读出总线PCIe3 x8
时间基准50   ppb on board or external 10 MHz clock
板载数据存储校准
触发窗口可调节
允许事件重叠
易用的Windows C API  
系统内固件更新
Linux支持  


高速脉冲采集卡应用领域:

FLIM荧光寿命成像显微

激发荧光团的衰变时间通常在几纳秒的范围内。在荧光寿命成像中,样品的指数衰减需要皮秒范围内的时间分辨率来确定。


LIDAR激光雷达

激光雷达系统发射紫外线、可见光或近红外光来成像物体,并测量反射光子的飞行时间(TOF)。这种系统用于许多不同领域的目标检测和跟踪,从考古学到农业,自动驾驶汽车和机器人等。


OTDR光时域反射

在光学时域反射测量中,通过测量从光纤的同一端有多少光通过瑞利后向散射返回或从沿光纤的各个位置反射来确定反射时间。


TOF质谱

在许多TOFMS单元中,使用TDC来精确测量单个离子的到达。从到达时间推算出离子的飞行时间,由此可以确定被探测粒子的质荷比。


TDR时域反射

TDR (Time Domain refltometry)是一种测量沿导体反射的电子测量方法。它属于距离故障(DTF)测量的范畴。TDR测量提供了有关传输系统宽带行为的有意义的信息。


FLCS荧光寿命相关光谱

荧光相关光谱是一种高灵敏度的光学测量方法。在荧光发射强度随时间的波动被记录,这是由通过检测体积的单个荧光团引起的。




产品优势
短脉冲高速采集,脉冲测量精度达5ps
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