HIOKI/日置日本原装3541微电阻计/高价回收二手仪器

HIOKI/日置HIOKI 3541日本原装3541微电阻计 高价回收二手仪器

是宽量程、高分辨率、适用于系统测试的电阻测试仪。

HIOKI 3541电阻测试仪广范围测量,低0.1μΩ（20.00mΩ），最110MΩ。

快速采样,快可达0.6ms (根据设定条件的不同,会有差异)。

HIOKI 3541电阻测试仪补正偏置电压,用9451(Pt)/温度探头进行温度补正功能。

运用4端子测量技术,测试线接触电阻可忽略不计。

HIOKI 3541电阻测试仪具备统计、演算功能。若再另配选件的9670,可实现打印。

测量电流 20mΩ（大显示20.0000mΩ, 分辨率0.1μΩ）~100MΩ量程

（显示110.000MΩ，分辨率1kΩ），11档切换

[Low Power ON时] 2Ω（最显示2.00000Ω，分辨率10μΩ）~2kΩ量程

（最大显示2.00000kΩ，分辨率10mΩ），4档切换

测量精度 (SLOW2） ± 0.007% rdg. ±0.0015%dgt.（2k/20kΩ）

[Low Power ON时]: ± 0.011% rdg. ±0.01%dgt.（2～2kΩ）

测量电流 DC 1A～100nA, [Low Power ON时]: DC 10m～10μA

开路端子电压 DC 5V（20/200m）, 2.6V（2～20k）, 13V（1M～100M）,[Low Power ON时]: 60mV

采样速度 　 快速 中速 低速 1 低速 2

50Hz 0.6ms ± 0.3ms 21ms ± 1ms 155ms ± 5ms 455ms ± 10ms

60Hz 0.6ms ± 0.3ms 17ms ± 1ms 149ms ± 5ms 449ms ± 10ms

响应时间（纯电阻时）：上记采样时间+约1ms（根据设定内容、试料的不同,会有差异）

其它功能 温度测量（-10.0~99.9 °C ），温度补偿电阻值换算，卷线温度上升值换算，

比较功能，可储存装填30种设定条件,分类（BIN）测量（10分类）, 统计运算, 补偿偏置电压，迟延 , 平均

外部输入/输出 输出: BCD, 测量结束,比测仪结果, BIN结果, NG/开放连接器输入: 

设定条件选择, 触发, 校准, 0ADJ,印刷 /C-MOS

供应电源 AC 100～240V, 50/60Hz, 30VA max.

体积及重量 215宽 × 80高 × 295厚mm, 2.6kg

附件 夹型测试线 9287× 1, 温度探头 9451× 1, 电源线× 1,保险丝× 1, EXT I/O用插入式连接器× 1