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二手 Hitachi S-5500 冷场发射电子扫描显微镜SEM
- 品牌：日立
- 型号： S-5500
- 产地：日本
- 供应商报价： ¥ 2000000 （市场参考价：¥ 3000000）
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上海爱仪通网络科技有限公司
更新时间：2024-04-30 09:55:51 -
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- 同类产品二手光学仪器(125件)
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- 详细介绍
S-5500超高分辨率扫描电子显微镜
S-5500的独特设计可以保证0.4nm的超高分辨率，从而获得新的信息并展现纳米世界的秘密。
特点：
1. 新型的物镜设计可以使其达到世界最高分辨率：0.4nm
(30kV)。同时新的控制系统使得超高分辨的显微分析变得
简单易行。
2. 保证分辨率为0.4nm (30kV), 1.6nm (1kV)
3. Hitachi的技术ExB可以让操作者优化图像中SE和BSE信号的比例
4. 新开发的BF/DF双STEM检测器可以同时显示BF像及DF像。在DF STEM模式中还可以改变检测角度。(可选)
5. 电子光学系统的改进可以不用改变样品位置而同时进行EDS分析及形貌观察。
6. 可以使用与FIB兼容的样品杆。技术指标：
二次电子分辨率 0.4nm (30kV) ；1.6nm (1kV) 加速电压 0.5~30kV 放大倍率 60X ~ 10,000X (低倍模式) ；800~2,000,000X(高倍模式) 电子枪 冷场发射电子源 透镜系统 3级电磁透镜系统 物镜光栏 可变型 (4孔，在真空系统外进行微调，100-50-50-30µm) 消像散线圈 八极电磁线圈系统 扫描线圈 2级电磁偏转线圈(高倍模式) ；1级电磁线圈(低倍模式) 样品台 侧插式测角台 样品台移动 X：±3.5mm, Y: ±2.0mm; Z: ±0.3mm, T: ±40° 样品尺寸 最大5.0mmx9.5mmx3.5mmH (Bulk)
最大2.0mmx6.0mmx5.0mmH (Cross-section)电子图像移动 ±5µ 检测器 二次电子检测器
上部背散射电子检测器(可选)
YAG型背散射电子检测器(可选)
BF/DF 双STEM检测器(可选)
STEM检测器(可选)
X射线能谱仪 (可选)- 产品优势
- 1. 新型的物镜设计可以使其达到世界最高分辨率：0.4nm
(30kV)。同时新的控制系统使得超高分辨的显微分析变得
简单易行。
2. 保证分辨率为0.4nm (30kV), 1.6nm (1kV)
3. Hitachi的技术ExB可以让操作者优化图像中SE和BSE信号的比例
4. 新开发的BF/DF双STEM检测器可以同时显示BF像及DF像。在DF STEM模式中还可以改变检测角度。(可选)
5. 电子光学系统的改进可以不用改变样品位置而同时进行EDS分析及形貌观察。
6. 可以使用与FIB兼容的样品杆。
