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二手 FEI Tecnai F20 透射电子显微镜 TEM

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详细介绍

一、主要规格及技术指标:

1.性能参数:

(1)电子枪:肖特基场发射电子枪;

(2)加速电压:20kV-200kV。


2.连续可调

(1)TEM:点分辨率:0.27nm;

(2)线分辨率:0.144nm;

(3)信息分辨率:0.18nm;

(4)STEM:分辨率:0.34 nm;

(5)探头:高角环形暗场探头。


二、主要功能及特色:

1、可实现常规电镜分析术: TEM, HRTEM, STEM,电子衍射

2、配备Fischione的三维重构样品杆,可实现±70°的倾转,可用于电子断层三维重构数据的采集,该技术主要用于研究细胞、细胞器以及一些巨大超分子复合体

3、配备gatan冷冻传输样品杆,可用于冷冻样品单颗粒三维重构数据采集,该技术可以对分离纯化的颗粒壮大分子如病毒、蛋白分子或复合体等进行结构解析,形成超高分辨率图像

4、配备自动化数据收集软件,可在低剂量模式,对冷冻含水样品自动的进行高通量数据收集,最大限度的减少样品的辐照损伤。单颗粒三维重构技术的EPU采集软件,电子断层扫描三维重构技术使用的Xplore3D


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