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MICROTRAC MRB 纳米粒径分析仪 NANOTRAC WAVE II / Q / ZETA
- 品牌：德国弗尔德
- 型号： Microtrac MRB的NANOTRAC Wave II
- 产地：德国
- 供应商报价： 面议
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广州领拓仪器科技有限公司
更新时间：2024-04-26 17:32:22 -
企业性质一般经销商
入驻年限第10年
营业执照已审核
- 同类产品粒度分析(18件)
联系方式：隆小姐400-8084333
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- 详细介绍
- 纳米粒度分析仪 NANOTRAC WAVE系列
180° 反向散射 DLS 设置
稳定的固定光学样品接口——无需调整
快速磁场反转可防止电渗
作为功率谱比函数的稳健迁移率计算
高浓度zeta电位测量
样品浓度和分子量测定
通用溶剂兼容性
频率功率谱计算模型代替PCS
激光放大检测-高信噪比
胶体系统的精确测量
所有Nanotrac Wave II系列分析仪均使用相同的新型探针技术进行DLS测量。利用我们的激光放大检测方法，为所有类型的材料提供可重复和稳定的粒度测量。 Nanotrac Wave II系列还可以通过使用功率谱和产生的负载指数来计算样品浓度。根据分布计算，浓度将以适当的单位显示，如cm3/ml或N/ml。也可以通过流体动力学半径或德拜图计算分子量。 Nanotrac Wave II颗粒分析仪具有多个不同尺寸的可重复使用样品池。有一个标准的和微型的特氟隆电池，用于各种材料。对于较难清洁的样品，有标准体积的不锈钢电池和大体积的不锈钢电池。 Nanotrac Wave II Q粒子分析仪还具有多种标准反应杯尺寸，以适应多种不同类型的材料。有聚苯乙烯、玻璃和不锈钢制成的反应杯，尺寸从50µl到3 ml不等。 Nanotrac Wave II Zeta粒子分析仪有一个特殊的可重复使用的Zeta电池，带有一个用于运行Zeta电位测量的电极。Wave II所列的样本单元也与zeta模型兼容。纳米颗粒和ZETA电位分析的理想选择
NANOTRAC WAVE II粒度分析仪中的zeta电位测量采用了与测量纳米粒度分布相同的频率功率谱方法。同样稳定的光学样品接口意味着无需调整。在测量粒径时，收集反向散射和激光放大的检测信号，应用电场的快速排序可防止电渗。光学探针表面被涂覆以提供与样品的电接触。使用两个探针，一个用于确定滑动面上粒子电荷的极性，另一个用于测量粒子在电场中的迁移率。极性是在脉冲电场中测量的，而迁移率是在高频正弦波电场激励下测量的。zeta电池的两侧有两个探测探针，用于探测极性和迁移率。 根据线性频率功率谱分布（PSD），可以计算与颗粒浓度成正比的负载指数（LI）。负载指数值为总散射提供了一个单一数字，可用于确定微粒的迁移率（微米/秒/伏/厘米）和微粒极性（正负）。 测量迁移率和zeta电位首先测量PSD，并在激发关闭的情况下确定LI。然后在高频正弦波打开的情况下测量PSD，并取一个比率。通过测量脉冲直流激励前后的LI来确定极性。对于带正电的探针表面，激发后的LI除以激发前的LI的比值小于1表示正极性（浓度降低），大于1表示负极性（浓度升高）。
Mobility = C x (ratio of [PSD(on) – PSD(off)] / LI(off)
Zeta电位∝ 流动性 - 产品优势
- Microtrac MRB的NANOTRAC Wave II/Q/Zeta是一种高度灵活的动态光散射（DLS）分析仪，可提供有关粒径、Zeta电位、浓度和分子量的信息。它使用可靠的技术、更高的精度和更高的精度进行更快的测量。所有这些结合成一个紧凑的DLS分析仪与一个革命性的固定光学探头。 通过独特灵活的探针设计和在NanoRAC Wave II/Q/Zeta中使用激光放大检测方法，用户可以从满足任何应用需求的各种测量单元中进行选择。这种设计还允许在广泛的浓度范围内测量样品，单峰或多峰样品，所有这些都不需要事先了解粒度分布。这是通过使用频率功率谱（FPS）方法而不是经典的光子相关光谱（PCS）实现的。
