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美国布鲁克扫原子力显微镜

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美国布鲁克扫原子力显微镜 核心参数
仪器分类: AFM MFM: Y
STM: Y AFM: Y
详细介绍




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参数:

X-Y扫描范围:             90µm x 90µm(标准), 85µm (最小)

Z扫描范围:               10um(标准成像与压力模式),9.5um(最小)

X-Y噪声(闭环):          ≤0.15 nm RMS,标准成像带宽,(可达625 Hz)

Z噪声(闭环):            35pm RMS,标准成像带宽,(可达625HZ)

                               50pm RMS,力曲线带宽,(0.1HZ-5KHZ)

非线性积分(X-Y-Z):       <0.5%

样品大小:                 真空吸盘210mm,直径 ≤210mm,厚度 ≤15mm

电动定位平台(X-Y):       180mm × 150mm 检测区域;

                               2µm重复性, 单向;

                               3µm 重复性,双向;

光学显微镜:               500万像素的数码相机;
                               180微米至1465μm可视面积;
                               数码变焦和机动焦点

控制器:                   NanoScope V

工作台:                   整合了所有控制器,符合物理和人体工学设计

隔振装置:                 集成化,气动

隔音装置:                 可在连续85DBC环境下连续工作

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咨询:182 6326 2536(微信同号);

产品优势
应用于科研和工业界各领域,涵盖了聚合物材料表征,集成光路测量,材料力学性能表征,MEMS制造,金属/合金/金属蒸镀的性质研究,液晶材料性能表征,分子器件,生物传感器,分子自组装结构,光盘存储,薄膜性能表征等领域的监测等各类科研和生产工作。
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