DS AE1-RD1红外发射率测量仪

美国D&S公司生产的AE1/RD1辐射率仪是专门

针对测量物体的辐射率设计的，具有如下优点：

重复性: ± 0.01

操作简单:探测器采用电加热设计，无须加热样

品，也不需要测量温度。

快速测量：预热约30分钟，每1.5分钟测量一次

发射率。

***: 相较于一些用比较法测量发射率的仪

器便宜很多

AE1/RD1辐射率仪测量材料的总半球发射率，

测量仪仅对辐射热传输响应，并且输出电压

和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表

RD1是AE1辐射率仪读数器，RD1通过可调旋钮

来设定电压读数和发射率标准体的电压一致，当

AE1测量待测样品上时，RD1就能直接读出发射

率。

把该仪器放在高发射率标准体（近似黑体）上，

设定RD1来表示发射率标准参数；然后仪器就会

根据这个标准，计算并直接读出RD1上该被测目

标的发射率。

AE1测量样品最小直径为2.25英寸（5.7cm）。

可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头能使测量样

品最小直径为1.0英寸（2.54cm），可以为圆柱

形表面和几乎任何几何形状面需求的客户提供定

制探头。对小直径圆柱形面样品测量，可以测量

平行放置的多个样品。如需定制测量头，请来电

垂询价格！

发射率通过两个步骤获取：

1.把辐射计放在高发射率标准体上，设定RD1来

表示发射率；

2.把辐射计放在待测样品上并直接读出RD1上的

发射率。