高速多通道LVDS测试解决方案

加拿大Introspect公司发布最新的高速多通道信号发生器在LVDS to T-CON(时序控制器)及中大尺寸显示屏驱动芯片（DDIC）的测试解决方案, Introspect SV1C/SV3C支持LVDS高速多通道（可支持32通道），支持共模电压调整，+-4.5% Modulation rate等功能。

分析仪内建完整的MIPI接收机，支持动态LP与HS终端阻抗的切换，让分析仪可以在任何的传输速率下进行封包的撷取。在系统级的验证环境下，搭配主动式探棒可以在对测试平台信号影响最小的情况下，完整地将总线上的讯号撷取下来，并且进行协议分析。透过高度通用的Introspect ESP软件来控制与操作仪器，所撷取下来的影像帧会先在软件上进行原图重建，并将不同协议层的数据在独立的窗口进行呈现，所提供的窗口链接功能，让工程师可以快速地在各协议层间浏览CSI-2 / DSI-2协议层的事件。

Introspect SV1C/SV3C系列产品五大亮点:1.每个通道具备独立注入抖动能力2.每个通道具备调整Skew能力3.可调整共模电压幅值(VCOM)4.可编程客制化码型5. 支持多通道测试，通道数可达326.可完全取代泰克DTG 5334 （已停产）,在目前各大DDIC和SoC厂商中有广泛使用