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C12562 纳米膜厚测量仪系列

品牌：日本滨松
型号： C12562
产地：日本
供应商报价：面议

滨松光子学商贸（中国）有限公司更新时间：2024-02-04 13:42:48

企业性质生产商

入驻年限第9年

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详细介绍

C12562 纳米膜厚测量仪系列

C12562型光学膜厚测量仪是一款利用光谱相干度量学工作的非接触型膜厚测量系统。光学膜厚测量仪系列可以测量薄至10nm的薄膜，而可测范围达到10nm到1100μm，因此可用来测量多种目标。此外，该测量仪可达到100Hz的高速测量，因此可进行快速移动的产品线进行测量。欢迎您登陆滨松ZG全新中文网站http://www.hamamatsu.com.cn/查看该产品更多详细信息！

特性

可测量10nm薄膜
缩短测量周期（频率高达100Hz）
增强型外部触发（适合高速测量）
涵盖宽波长范围（400 nm到1100 nm）
软件增加了简化测量功能
可进行双面分析
不整平薄膜精确测量
分析光学常数（n,k）
可外部控制

参数

型号	C12562-02
可测膜厚范围（玻璃）	10 nm to 100 μm^*1
测量可重复性（玻璃）	0.02 nm^{2 3}
测量准确度（玻璃）	±0.4 %^{3 4}
光源	卤素灯
测量波长	400 nm to 1100 nm
光斑尺寸	Approx. φ1 mm^*3
工作距离	10 mm^*3
可测层数	最多10层
分析	FFT 分析，拟合分析，光学常数分析
测量时间	3 ms/点^*5
光纤接口形状	FC
外部控制功能	RS-232C, Ethernet
电源	AC100 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz
功耗	80W