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滨松InGaAs线阵扫描相机 C15333-10E

品牌：日本滨松
型号： C15333-10E
产地：日本
供应商报价：面议

滨松光子学商贸（中国）有限公司更新时间：2024-02-04 13:42:48

企业性质生产商

入驻年限第9年

营业执照已审核

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联系方式：滨松客服400-074-6866

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详细介绍

技术参数

产品型号	C15333-10E
有效像素数	1024 (H) × 1 (V)
像素尺寸	12.5 μm (H) × 12.5 μm (V)
有效面积	12.8 mm (H) × 0.0125 mm (V)
满阱容量	Gain 0: 4.0 M electrons Gain 1: 0.76 M electrons Gain 2: 0.16 M electrons Gain 3: 0.051 M electrons
读出速度	Internal mode: 40 kHz (21 μs exposure time) Sync readout: 40 kHz
曝光时间	21 μs to 1 s (1 μs step)
外部触发输入	Sync readout
外部触发信号路径	12 pin SMA or HIROSE connector
图像处理功能	Background subtraction, Real time shading correction
接口	Gigabit Ethernet
A/D转换器	14 bit
镜头卡口	C mount
电源	DC 12 V
量子效率	above 60 % (1100 nm ～ 1600 nm) *
功耗	6 W max.
推荐环境工作温度	0 ℃ to +40 ℃
环境储存温度	-10 ℃ to +50 ℃
环境工作湿度	30 % to 80 % (with no condensation)
环境储存湿度	90 % max. (with no condensation)
成像器件	InGaAs line sensor

* Representative value

产品特征

● SWIR高灵敏度，覆盖950 nm到1700 nm的光谱范围

● 大视场高分辨率，1024像素线阵

● 高行频输出，最大线路速率：40 kHz

● 紧凑轻巧的设计：49 mm (W) × 49 mm (H) × 100 mm (D) (Does not include protrusions.)，

● 小巧轻便，重量约250克

● 高质量的图像以及的矫正功能

●GigE Vision接口

产品应用

● 食品和农产品（损坏检查，质量筛选，材料歧视等）

● 半导体（硅晶片图案检查，EL / PL的太阳能电池检查等）

● 工业（水分，泄漏检测，容器检查等）

光谱响应范围

外形尺寸图（单位：mm）

产品优势

SWIR（短波红外）成像是无损检测的解决方案。它可以根据物体表面SWIR光谱特征区分材料，并提供安全便捷的方法来保证产品质量，包括检查包装中的液体质量，检查密封容器里的内容以及检测农产品中的损坏和杂志等。另外，还可以在半导体工业中进行硅晶圆的太阳能电池缺陷检查。
将SWIR成像方式集成到产线中需要高行频，高灵敏度的相机，针对这些应用，滨松目前正是推出了新型C15333-10EInGaAs线阵扫描相机。

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