N-SIM E 超分辨率显微镜系统

N-SIM E 超分辨率显微镜系统

 N-SIM E运用结构照明显微镜技术，实现了2倍于传统光学显微镜的空间分辨率（约115nm）。作为一套精简、经济的超分辨率系统，N-SIM E支持常用的激发波长和基本的成像模式，是个人实验室的理想选择。 

● 两倍于传统光学显微镜的高分辨率

 N-SIM E 结合“结构照明显微技术”，并搭配尼康知名的CFI超分辨率复消色差TIRF 100x油镜（NA 1.49），将空间分辨率提升至传统光学显微镜的近2倍（约115nm），可以观察细胞内结构的微小细节以及它们之间的相互作用。

*488nm激光激发，3D-SIM模式

超分辨率成像（Slice 3D SIM 模式）     传统宽场成像

 ● 1帧/秒的时间分辨率，快速超分辨率成像

N-SIM E实现高速超分辨图像获取，时间分辨率约1秒/帧，支持活细胞高分辨成像。

 ● 3D-SIM模式提供Z轴超高分辨率成像

Slice 3D SIM模式用于300nmZ轴分辨率的光学断层超分辨率成像。Stack 3D-SIM模式（选配）用于厚样品的多层序列超分辨率成像，具有比Slice 3D-SIM模式更高的成像对比度。

 ● 3激光多色超高分辨率成像

 N-SIM E专用的紧凑型LU-N3-SIM 激光台，预装了最常用的3个激光器（488/561/640），可进行多色超分辨率成像。用于研究细胞水平多个蛋白间相互作用以及动态过程。 

 ♦ 结构照明显微镜原理   

通过对覆盖已知高空间频率图案所产生的莫尔纹进行分析处理，可从数学上恢复标本的亚分辨结构。

使用高空间频率的激光干涉照明标本，标本内的亚分辨结构产生莫尔条纹，这些莫尔条纹中包含标本经过调制的亚分辨率结构信息。捕获莫尔条纹并通过影像技术进行处理，可复原未知的样品信息，实现超越传统光学显微镜极限的卓越分辨率。

条纹图案照明辐射配合一直的空间频率，能够获取莫尔条纹等细微结构的信息。

通过处理多个莫尔条纹影像创建超分辨率影像

  在此处理过程中，捕获道德莫尔条纹影像包含标本内微小结构的信息。显微镜对结构照明的多个相位和方向进行捕捉，并从莫尔条纹信息中提取出“超分辨率”信息。然后显微镜将此信息以数学方式组合到“傅立叶”或孔径空间中，接着将其转换回影像孔径，从而产生分辨率两倍于传统显微镜的影像。

 使用高频条纹照明使分辨率翻倍

 高分辨率、高空间频率信息的捕捉收到物镜数值孔径（NA）的限制，且超过光学系统孔径的结构孔径频率被去除（图A）。

 通过高频结构化照明技术提高样本亮度，超越传统的分辨率限制，令样本中的未知结构清晰可见，在光学系统光圈内转显微镜不为人知的“超分辨率”信息（图B）。

 然后此“超分辨率”信息以数学形式与物镜捕捉到的标准信息组合在一起，从而使得NA和光学系统的分辨率有效翻倍（图C）。

图A：分辨率受到物镜NA的限制

图B：结构照明和标本中物镜无法分辨出的细微结构共同作用，产生莫尔条纹

图C：捕捉到约为NA角度两倍角度的射线 

  ●超分辨率显微镜专用物镜  

可配置100x或60x超分辨率专用物镜，其中100x油镜适用于固定标本的拍摄，而60x水镜更适合活细胞长时间成像。

 超分辨率物镜针对尼康超分辨率显微镜设计研发，具有的光学表现。每颗物镜均经过严格的检查和挑选，具有zuidi的光学相差，确保优异的光学性能。