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热膨胀系数分析仪（TEA)
- 品牌：武汉嘉仪通
- 型号： TEA
- 产地：武汉
- 供应商报价： 面议
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武汉嘉仪通科技有限公司
更新时间：2019-07-10 15:47:44 -
企业性质生产商
入驻年限第6年
营业执照已审核
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- 详细介绍
TEA采用创新的光干涉原理ZG技术，可无损检测块体和薄膜样品透明材料的热膨胀系数，广泛应用于辅助各种新材料，尤其是薄膜材料的研究与开发以及质量检验。
热膨胀系数分析仪独特技术
自主知识产权产品，拥有多项技术ZG。
基于光干涉原理的创新技术，通过照射到样品上下表面产生的两束反射光发生干涉，得到光功率随温度的变化曲线，通过计算得到材料的热膨胀系数。
采用PID调节与模糊控制相结合形式控制的红外加热方式，大温区连续、高速温度跟随、既定程序升温及保持控制。
非接触式无损检测，测试精度高。
具备外接抽真空设备、循环水冷设备及载气或制冷能力。
热膨胀系数分析仪技术参数
型号
TEA-300
TEA1200
TEA-1800
温度范围
RT~300℃
RT~1200℃
RT~1800℃
程序升温重复性偏差
＜1.0%
程序升温速率偏差
＜1.0%
热膨胀系数测量精密度偏差
＜4.5%
热膨胀系数测量正确度偏差
＜±15%
最大工作功率
4.0kw
最大升温速度
50℃/s（50℃~1200℃、真空氛围），45℃/s℃/（50℃~1200℃，N₂氛围）
温度一致性
±2.0℃（1200℃，真空），±4.5℃（1200℃，N₂）
制冷要求
水冷
热膨胀分辨率
266nm
热膨胀系数分析仪样品要求
尺寸：长×宽5x5~20x20mm2，厚度2.0mm（含基底）以下为宜
适用于透光材料的热膨胀系数检测
具备光学反射双平面
检测样品的热膨胀量≥266nm
热膨胀系数分析仪测试原理
1.入射光 2.光束隔离器 3.投射光 4.待测样品
5.反射光 6.反射光 7.聚光镜 8.滤光片 9.光电传感器
光路原理图
激光器射出的光线经分光镜照射到样品上表面，产生反射光，同时投射光照射到下表面也产生一束反射光，两束反射光在光电探测器处发生干涉，反射光功率发生周期性变化，得到光功率随材料温度的变化曲线，通过计算得到热膨胀系数。
- 产品优势
- 热膨胀系数分析仪采用创新的光干涉原理ZL技术，可无损检测块体和薄膜样品透明材料的热膨胀系数，广泛应用于辅助各种新材料，尤其是薄膜材料的研究与开发以及质量检验。
