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X-Strata920

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详细介绍

新品详情

上市时间:2012年2月
创新点:结合了大面积正比计数探测器和牛津仪器微聚焦X射线光管,使X射线光束强度大、斑点小,样品激发更佳,确保同级别中精确性**,分析结果只需要几秒钟。在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。配有各种材料筛选应用的校准包,预装了超过800种应用参数/方法。具有先进的系统安全性的特点,为日常操作员设定简单的用户界面,而管理员级别可进入系统进行维护,并通过自动锁定功能防止未授权的操作。改进的报告功能允许几秒内将结果导出到Excel表格和创建自定义报告,包括统计数据分析和样品图象。

详细信息

X射线荧光分析仪X-Strata920 是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。

X-Strata920 在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。X-Strata920 为这些行业提供了:

  • 以更有效的过程控制来提高生产力
  • 有助电镀过程中的生产成本最小化、产量最大化
  • 快速无损地分析珠宝及其他合金
  • 快速分析多达4层镀层
  • 经行业认证的技术和可靠性,确保每年都带来收益
  • 操作简单,只需要简单的培训

卓越的性能

  • 快速、精确的分析:大面积正比计数探测器和牛津仪器50瓦微聚焦X射线光管(X射线光束强度大、斑点小,样品激发佳)相结合,提供**灵敏度
  • 简单的元素区分:通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱
  • 性能优化,可分析的元素范围大:X-Strata920 预置800多种容易选择的应用参数/方法
  • 卓越的长期稳定性:
    • 自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正,确保稳定的测试结果
    • 例行进行简单快 速的波谱校 准,可自 动检查仪器性能(例如灵敏性)并进行必要的修正
  • 坚固耐用的设计

    • 可在实验室或生产线上操作
    • 坚固的工业设计

电子行业

电子、电气原件
有效控制生产过程,提高生产力

  • 确保元件可靠性
    • 同时测量焊料合金成份和镀层厚度
  • 优化质量控制,确保产品生命期
    例如:
    • 分析导电性镀层金和钯的厚度
    • 测量电脑硬盘上的NiP层厚度

五金电镀行业

电镀处理的成本最小化,产量最大化

  • 快速简单的分析
    • 同时进行单层或多层镀层厚度测量及成份分析
    • 最多可分析4层镀层
    • 镀液成份分析

金属合金行业

金属合金成份分析和牌号认定
珠宝及其他合金的快速无损分析

  • 贵金属合金分析
  • 黄金纯度分析
  • 材料鉴定

三种配置选项

固定样品台

  • 样品台位置固定
  • 经济、实用
  • 平面样品台设计,适合高
    度不超过1.3"(33mm)的样
    品分析

加深样品台

  • 高度每英寸(25.4mm)可
    调,架构式样品舱可容纳
    最大高度6.3"(160mm)的
    样品

程控样品台

  • 用于自动化测量
  • 方便根据测试位置放置样品,
    并jing准定位测量点
  • 样品台尺寸:22"(D) x 24"(w),即560mm (深) x 610mm (宽)
  • 程控台移动距离:7" x 7",
    即178mm x 178mm

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