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JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜

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JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜 核心参数
电子枪: 场发射
详细介绍


  • JEM-3200FS场发射电子显微镜配备了最高加速电压为300kV的场发射电子枪(FEG)和镜筒内置式Ω型能量过滤器,能为广泛的研究领域提供各种全新的解决方案。

  • 镜筒内置式Ω型能量过滤器(omega 过滤器)

  • 镜筒内置式Ω型能量过滤器内置于成像透镜系统,能容易地获得能量过滤像和能量损失谱,同时还能获得与传统电子显微镜同等的放大倍率范围。此外、Ω型过滤器的电子光学系统在设计上最大 程度地减少了图像畸变,出厂前还将剩余一点的畸变做了zui后的修正。JEM-3200FS还采用了高灵敏度的相机系统及图像处理系统(选配件),可以构建元素面分布系统及能量损失谱系统。

  • 新型控制系统

  • 电子枪、电子光学系统、测角台、抽真空系统等电子显微镜基本功能的系统化,实现了高稳定、高性能的控制系统。图像画面和用户界面采用Windows ®*1,可以进行编程操作和附件的集中控制。

  • 新型测角台

  • 系统化的新型测角台内置压电陶瓷驱动机构,使高倍率下的样品移动更加精确。*2.

  • *1 :  注意事项:Windows是微软公司在美国和其他国家的注册商标。
    *2 :  仅有压电元件包括在基本单元中,压电元件的电源为选配件。


产品优势
JEM-3200FS场发射电子显微镜配备了zui高加速电压为300kV的场发射电子枪(FEG)和镜筒内置式Ω型能量过滤器,能为广泛的研究领域提供各种全新的解决方案。
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