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Park systems NX-PTR 原子力显微镜

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详细介绍

全自动原子力显微镜实现准确的硬盘磁头滑块测量,让伟大变得简单

Park Systems的PTR系列是全自动工业级线上原子力显微镜解决方案,适用于(不限于)长形条、磁头万向节组件(HGA)级滑块以及单独滑块的极尖沉降自动测量。凭借着亚纳米级精确度、高重复精度以及高通量,PTR系列是滑块厂商提高整体产量的理想测量工具。

自动化、快速、精确且可重复的极尖沉降测量

硬盘驱动滑块制造业要求工具不仅可以快速且流畅地测量极尖沉降,同时保证最高标准的精确度。这便是Park NX-PTR大展身手的领域。在超精确的极尖沉降测量之外,自动化功能可极大程度提高效率。这让NX-PTR成为硬盘驱动器滑块厂商的**选择,兼顾**的质量和最高的产量。

高通量,无需多次参考扫描

大多数原子力显微镜需要多次扫描才可以准确测量极尖沉降,首先是大区域参考扫描,随后小区域高分辨率扫描。多次扫描占用大量时间,且限制了通量的提高。我们的扫描系统带来真正的平面扫描,有效地降低扫描次数。此外,True Non-Contact模式让探针保持锋利,在延长使用寿命的同时,提供更持久的高分辨率成像效果。相应地,Park NX-PTR能够生成感兴趣区域的详细准确图像,而无需进行参考扫描,以便修正扫描器伪影。

* 应用

自动硬盘滑块测量

随着硬盘滑块的尺寸越来越小,复杂性越来越高,提高产量的关键在于实现纳米级的精确度。

Park NX-PTR恰恰具备这样的精确且自动的硬盘滑块测量。

自动极尖沉降测量与分析

借助NX-PTR系统,极尖沉降测量可实现全自动,带来更高的通量,无论是对于载体、长形条,还是滑块。

Park Systems的工业级院里子显微镜精确且稳定的全自动化极尖沉降(PTR)测量成为可能。

极尖沉降量的监测要求测量精度达到0.1 mm,这意味着离测量表面只有20 μm远。

自动墙角测量与分析

实现各类墙角的自动测量与分析。

自动缺陷测量与分析

实现各类缺陷的全自动测量与分析,如表面尖角。

* Park NX-PTR的特点

低噪声XYZ轴位置传感器,带来更精确的扫描效果

NX-PTR摈弃了常见的非线性Z轴电压信号,而是采用超低噪声Z轴探测器,从而带来无与伦比的形貌高度精度。凭借着行业领xian的低噪声Z轴探测器,正向扫描和反向扫描间隙得以降到扫描范围的0.15%以内,甚至可以忽略不计,而这时Z轴形貌信号所无法企及的。

热漂移和滞后极小,大大降低探针漂移

NX-PTR具备极为突出的热稳定性和机械稳定性,从而大大降低热漂移,实现更为精确的测量。一般情况下,横向热漂移率低于100 nm/°C,而垂直热漂移率则低于200 nm/°C。

测量控制自动化,释放您的双手

NX-PTR配有自动化软件,操作起来轻而易举。您只需要选择想要的测量程序,并设定相应的悬臂调谐、扫描速率、增益和点参数,便可取得多位置分析。此外,Park的用户友好型界面让您能够随意创建自定义作业程序,以便您完全发挥NX-PTR的实力,满足所有的测量需求。创建新的作业程序极为简单。创建新测量文件只需要10分钟左右的时间,而修改现有的测量文件则不超过5分钟的时间。

Park NX-PTR的自动化系统具备

自动、半自动和手动模式让您掌控全局

各自动程序的可编辑测量方法

测量过程实时监测

自动分析所获取的测量数据

 * 选项

自动探针更换选配

Park推出的自动探针更换系统让您的自动测量程序可以无缝续航。该系统会根据参考图形测量数据,自动校正悬臂的位置和优化测量设定。创新的磁性探针更换成功率高达99%,让您无需分心监督探针更换!

自动激光准直选配

Park的自动激光准直系统让您无需输入任何数据,便可持续自动测量。凭借着我们先进的预准直悬臂架,激光在自动更换探针时便已对准悬臂。只需要调整定位旋钮,便可在X和Y轴上任意定位激光光点,达到**位置。

离子化系统可创造更稳定的扫描环境

创新的离子化系统能够快速有效地消除样品的静电电荷。由于系统能够让阴阳离子保持wan美的平衡状态,样品得以处在极其稳定的电荷环境中。同时,对周边区域的污染几乎可以忽略不计,并将样品操作时意外产生静电电荷的几率降到zuidi。

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