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PL光致发光光谱仪

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详细介绍

组合式荧光光谱测量系统-OmniPL系列




光 致发光(photoluminescence)即PL,是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光。PL 荧光测量系统通常是用较强的单色光(如激光器等)激发样品/ 材料(如GaN/ZnO 等)产生荧光,通过对其荧光光谱的测量,分析该材料的光学特性。典型应用于LED 发光材料、半导体材料的研究。

OmniPL 系列稳态荧光光谱测量系统采用模块化设计,在满足PL 光谱测量的同时,用户可以根据不同的实验需求,选择不同的配件,灵活的进行系统功能的扩展。



系统组成:激发光源+ 样品室+荧光光谱仪+数据采集及处理系统+软件+计算机



OmniPL-LF325型稳态光致发光光谱系统主要技术参数

● 激发光源:HeCd激光器
● 激发光功率:20mW
● 激发波长:325nm
● 瑞利散射截止滤光片,OD>6
● 荧光光谱仪光谱范围:300-850nm(可扩展至2500nm)
● 荧光光谱分辨率:优于0.2nm(@1200g/mm光栅)
● 波长准确度:±0.2nm
● 波长重复性:±0.1nm
● 光探测器:科研级制冷型背感光CCD,300-1000nm
● 可选配闭循环超低温制冷机,zuidi温度可达2K
● 系统扩展性:系统采用模块化设计,可扩展至近红外波段光谱测量
● 软件提供灵活的实验运行步骤自定义功能,可随时储存和提取图谱,并能够进行复杂的光谱处理及光谱数据间的四则运算系统结构图PL图谱



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