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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-ARM300F GRAND ARM
- 产地:日本
- 供应商报价: 面议
- 深圳市蓝星宇电子科技有限公司 更新时间:2024-04-10 09:45:03
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企业性质生产商
入驻年限第6年
营业执照已审核
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- 详细介绍
JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜
JEM-ARM300F 实现了世界zui高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配备了JEOL自主研发的球差校正器,zui高加速电压可达300kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界zui高的STEM-HAADF像分辨率。
产品规格:
分辨率
300 kV,80 kV
物镜种类※1
UHR极靴
HR极靴
STEM分辨率(300kV) 使用STEM校正器
0.058nm
0.063nm
TEM分辨率(300 kV)
线分辨率0.05nm
线分辨率0.06nm
使用TEM校正器
非线性信息分辨极限0.06nm
非线性信息分辨极限0.07nm
线性信息分辨极限0.09nm
线性信息分辨极限0.12nm
产品特点:
· 实现了世界zui高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率
· JEM-ARM300F配备了JEOL自主研发的球差校正器,zui高加速电压可达300kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界zui高的STEM-HAADF像分辨率。
· STEM-HAADF像的保证分辨率达到了前所未有的58pm
· 采用JEOL自主研发的球差校正器,扫描透射像(STEM像)的保证分辨率可达58pm(300kV,超高分辨率极靴、使用STEM球差校正器时)。
· ETA校正器 JEOL自主研发的12极球差校正器 ※选配件
· ETA校正器(Expanding trajectory aberration corrector)是JEOL研发的扩展轨道型12极球差校正器。可以在用户现场加装STEM球差校正器及TEM球差校正器。
· 强大的冷场发射电子枪HyperCF300
· 标配了全新设计的冷场发射电子枪,低能散、高亮度电子束能提供高分辨率观察和分析。
· 两种物镜极靴
· 为了支持用户广泛的需求,研发了两种各具特点的物镜极靴。
· 丰富的选购件
· 能安装超大立体角EDS(能谱仪)、EELS(电子能量损失谱仪)、背散射电子检测器及四种STEM观察检测器。
· 大范围的加速电压设置
· 标配300kV和80kV下的球差校正数据,可选的加速电压范围从40KV?300kV,使用范围极广。
· 新开发的真空系统
· 新的排气系统达到了极高的真空度,在原子尺度的图像观察和分析中,最大限度地减轻了对样品的污染和损伤。
· 高稳定的镜筒和样品台
· 整体稳定性高、直径330mm的镜筒增加了机械刚度, 在JEM-ARM200F高度稳定的技术基础之上,把电气稳定性和对环境的抗干扰能力提高到新高度。
- 产品优势
- JEM-F200 场发射透射电子显微镜,以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系统可满足多种使用途径,易用性强,外观设计精炼,能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。
电子枪: | 钨灯丝 |