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IB-09060CIS 低温冷冻离子切片仪
- 品牌：日本电子
- 型号： IB-09060CIS
- 产地：日本
- 供应商报价： 面议
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深圳市蓝星宇电子科技有限公司
更新时间：2024-04-10 09:45:03 -
企业性质生产商
入驻年限第6年
营业执照已审核
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联系方式：廖敬强0755-81776600
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- 详细介绍
易受热损伤的样品，也能方便地制作出薄膜样品和截面样品。冷却保持时间长，有效地YZ了热损伤。
· 产品规格
IB-09060CIS
离子加速电压
1 ～ 8kV
倾斜角
最大±6º(0.1º/步)
离子束直径
500μm(FWHM)
研磨速率
5μm/min(加速电压:8kV、Si换算)
使用气体
氩气
最大样品尺寸
2.8mm(长度)×1.0 mm(宽度)×0.1mm(厚度)
样品冷却
样品架冷却温度
-120℃
冷却到达时间
1小时
冷却保持时间
8小时
样品取出时间
30分钟
压力测试
潘宁规
主抽真空系统
涡轮分子泵
CCD相机
内置
尺寸 重量
主机
500mm(W)×600mm(D)×542mm(H)、70kg
机械泵
150mm(W)×427mm(D)×230.5mm(H)、16kg
液晶显示器
326mm(W)×173mm(D)×380mm(H)、3.7kg
· 安装条件
IB-09060CIS
电源
单相100 ～ 120V±10%、50/60Hz、0.5 ～ 0.6kVA
接地线
独立地线(100Ω以下)
氩气
使用压力: 0.15±0.05MPa(1.0 ～ 2.0kg/cm²)
纯度99.9999%以上(氩气、气瓶及调压器由客户自备)
金属配管连接口:JISB0203 RC1/8室温
20 ～ 25℃
湿度
60% 以下
· *产品外观及技术规格可能未经预告而有所变更。
产品特点：
· 带有样品冷却系统，对容易受热损伤的样品也可以进行截面制备的离子切片仪。
· ①通过液氮制冷，减轻了离子照射时对样品造成的热损伤。
· ②可以用于制备TEM的薄膜样品和SEM的截面样品*
· ③冷却保持时间长，大大减少了热损伤。
· ④在装有液氮的情况下，也可以交换样品。
· *最大样品尺寸:2.8mm(长度)×1.0 mm(宽度)×0.1mm(厚度)。
- 产品优势
- 带有样品冷却系统，对容易受热损伤的样品也可以进行截面制备的离子切片仪。
· ①通过液氮制冷，减轻了离子照射时对样品造成的热损伤。
· ②可以用于制备TEM的薄膜样品和SEM的截面样品*
