冷场发射球差校正透射电镜

日本电子株式会社2010年7月zuixin推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。

传统的冷场发射技术稳定性差，亮度低，无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zuixin开发的冷场发射技术解决了这些问题，并把该技术加入到zuixin球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时，能量分辨率提高到0.3eV，极大增强了原子级观察和原子级分析能力。

在美国的第一台搭载冷场发射电子枪的JEM-ARM200F将安装在Florida State University’s Applied Superconductivity Center, housed in the National High Magnetic Field Laboratory. 其后美国的Brookheaven国家实验室；欧洲各国；日本的东京大学、东北大学、名古屋大学、九州大学等；ZG台湾的清华大学也开始纷纷采购这一设备。