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二次离子/溅射中性粒子质谱仪

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二次离子/溅射中性粒子质谱仪 核心参数
仪器分类: 四极杆 质量范围: 300amu,500amu,1000amu
详细介绍

产品简介

MAXIM 二次离子溅射中性粒子质谱仪可分析二次阴、阳离子动态和中性粒子,所具备的的30°接受角可形成样品粒子平面,应用于SIMS和SNMS的光学采样。

功能特点

光栅控制,增强深度分析能力
所有能量范围内,离子行程的最小扰动,及恒定离子传输
灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器

技术参数

质量数范围: 300amu,500amu,1000amu

检测器: 离子计数探测器、正负离子探测器、107 cps

质量过滤器: 3F四级杆

杆直径: 9mm

最高加热: 250℃

离子源: 电子轰击,可用于SNMS和RGA的单根灯丝



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