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普通数字测厚仪

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详细介绍

仪器简介:

测量薄膜或片状材料的厚度均匀性
附件:
台式支座
样品砧
标准测头
可选配重使样品的压力达到要求

可选测量V型缺口深度刀头.



技术参数:

4位数字显示器
测量速度3m/sec
测量施力:20g+ -0.2
手动置零装置
串行输出口用于连接打印机



主要特点:

测量薄膜或片状材料的厚度均匀性
分辨率可至0.001mm,测厚范围为12.5mm或25mm

可测量V型缺口深度.

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