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上海伯东半导体芯片温度测试|高低温测试机
- 品牌:美国inTEST- Temptronic
- 型号: ATS-710-M
- 产地:美国
- 供应商报价: 面议
- 伯东企业(上海)有限公司 更新时间:2024-03-27 15:06:09
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企业性质授权代理商
入驻年限第10年
营业执照已审核
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- 详细介绍
上海伯东 inTEST-Temptronic thermostream 高速温度测试机应用于半导体芯片温度测试
上海伯东客户某国际半导体厂商选用 inTEST-Temptronic ATS-710-M 高速温度测试机用于半导体芯片的温度冲击和温度循环测试,inTEST-Temptronic ATS-710-M 提供循环测试温度:-80°C 至 +225°C,每秒可快速升温/降温 18 °C,成功完成芯片的温度循环测试,疲劳失效测试。上海伯东作为 inTESTZG地区总代理,全权负责其新品销售和售后维修服务。
inTEST-Temptronic ATS-710-M 提供 2 种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode,温度显示精度:±1°C (通过美国国家标准与技术研究院NIST 校准)
上海伯东客户现场图片:
鉴于信息保密,更详细的 inTEST 半导体芯片温度测试应用案例,欢迎拨打客服热线:021-5046-3511!
上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer真空设备;美国 Polycold深冷泵;美国 KRI考夫曼离子源;美国 HVA真空闸阀:美国 inTEST-Temptronic高速温度循环试验机;日本 NS离子蚀刻机等。上海伯东版权所有,翻拷必究!