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AA-M显微实时扫描自相关仪

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详细介绍

AA-M显微实时扫描自相关仪

AA-M 显微镜扫描型自相关仪提供了2个同步的测量点,1个位于显微镜的焦平面上,另1个位于激光束的合适位置,例如:在显微镜输入的前端,然后比较2束脉冲的测量值,来确定显微镜光学部件引起的脉冲延展,在很多情况下,显微镜焦点处的超短脉冲因“群速色散”而导致脉冲时间加宽,这一测量对于校正超短脉冲和提高非线性光学成像 (例如:双光子) 效率,降低脉冲激发的次数和能量,获得成功的实验结果是非常重要的;这一测量还能确定出样品曝光的时间,据此来优化激发强度,修正参数,以降低样品的激光损伤。

2016321101421.jpg产品特性:
输入脉冲宽度范围20 - 12000 fs *
外部和内部光电探测器
扫描速率0.1 -20 Hz *
线性畸变小于1% *
USB连接*
全反射器件*
位置测量*
条纹分辨自相关函数*
旁路功能*

典型应用:
- 多光子显微镜
- 显微镜或器件中经历色散前后的飞秒脉冲宽度测量
- 色散值比较,确定各种光学元件色散

AA-M
波长范围, nmV**: 450-700 nm
R1: 700-1300 nm
R2: 1300-2000 nm
探测器数量2  (含外部探测)
脉宽范围, fs20-12000
输入重频>10 kHz
灵敏度100 mW2
输入偏振,线性水平(垂直可选)
扫描频率, Hz0.1-20
线性畸变, %<1%
共线(干涉和强度)自相关yes
PC连接USB
必要设备Windows电脑或者示波器
光纤输入(可选)FC/PC 或者 FC/APC
信号源和探测器半导体双光子电导
尺寸, mm210x164x132 (探头) 
225x190x45 (控制器)
70x55x16.5 (外部探测器)

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产品优势
AA-M 显微镜扫描型自相关仪提供了2个同步的测量点,1个位于显微镜的焦平面上,另1个位于激光束的合适位置,例如:在显微镜输入的前端,然后比较2束脉冲的测量值,来确定显微镜光学部件引起的脉冲延展,在很多情况下,显微镜焦点处的超短脉冲因“群速色散”而导致脉冲时间加宽,这一测量对于校正超短脉冲和提高非线性光学成像 (例如:双光子) 效率,降低脉冲激发的次数和能量,获得成功的实验结果是非常重要的;这一测量还能确定出样品曝光的时间,据此来优化激发强度,修正参数,以降低样品的激光损伤。
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