奥林巴斯 近红外显微分光测定仪 USPM-RU-W

奥林巴斯 近红外显微分光测定仪 USPM-RU-W

从380nm~1050nm的可视光至近红外实现大范围波长区域中的分光测定

奥林巴斯的近红外显微分光测定仪USPM-RU-W可以高速&高精细地进行可视光区域至近红外区域的

大范围波长的分光测定。由于其可以很容易地测定通常的分光光度计所不能测定的细微区域、曲面的

反射率，因此适用于光学元件与微小的电子部件等产品。

测定反射率

测定以物镜聚光的Φ17~70μm的微小点的反射率。

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反射率测定光路图

测定膜厚

活用反射率数据，测定约50nm~约10μm的单层膜、多层膜的膜厚。

膜厚测定的图例

测定物体颜色

根据反射率数据显示XY色度图、L*a*b*色度图及相关数值。

物体色的测定图例

多样化应用

通过测定球面、非球面的镜片、滤镜、反射镜等光学元件的反射率，进行涂层评价、物体颜色测定、膜厚测定。

数码相机镜片  /投影仪镜片 / 眼镜片

适用于LED反射镜、半导体基板等微小电子部件的反射率测定、膜厚测定。

LED包装    /半导体基板

适用于平面光学元件、彩色滤镜、光学薄膜等的反射率测定、膜厚测定、透过率测定。

液晶彩色滤镜       /光学薄膜

适用于棱镜、反射镜等45度入射产生的反射率测定。

棱镜    /反射镜     

奥林巴斯 近红外显微分光测定仪 USPM-RU-W