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JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪

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详细介绍

电子探针显微分析仪在钢铁、汽车、电子零件和电池材料等各种工业领域,作为研究开发和品质保证的分析工具被广泛使用,其用途越来越广。此外,在学术领域 ,地球空间科学、材料科学领域也在广泛使用,矿物等资源能源研究、各种新型材料研究等,期待在各种各样前沿研究中做出贡献。与此相应,在保持高局部微量元素分析性能的同时,追求每个人都能简单快速地使用好仪器。JXA-iHP200F能更加有效地进行观察分析操作,是更先进的一体化集成场发射EPMA。

* EPMA是Electron Probe Microanalyzer简称


◇  [Setting]                                                     

自动定位,准确安装样品台!迅速找到想观察的点!

进样和获取样品台导航像一键完成。从导航像能够指定分析区域

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JXA-iHP200F用图片2.jpg

◇ [Analysis]                                              

充分的自动功能,谁都可以拍到高级的SEM像

繁琐的设定也能对应,EPMA立马进行元素分析

光学显微镜的自动聚焦功能与配备高精度/高速化新系统的SEM自动功能相结合,任谁都可以拍到高级的SEM像。

【live Analysis】

通过【live Analysis】能够在观察中进行筛选分析。初学者也能操作的【简单的EPMA】。

用【EPMA-XRF integration】在XRF数据的基础上能够进行EPMA的条件设定。用【WD/ED integration】能够缩短分析时间。SEM、EDS、XRF、WDS、光学像的集成一体化提高了仪器的操作性能JXA-iHP200F用图片3.jpg

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通过WD/ED integration,分析时间缩短的例子

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integration:用这些仪器推定的元素在一体化EPMA上可以一键设定分光晶体的组合

 

◇ [Self Maintenance]                    

内置18种类校正样品,有效进行校正

配置【分光器校正功能】减轻了定期进行分光器校正的作业而且也避免了校正样品设定时的人为失误;利用夜间对仪器进行校正,提高了工作效率。

按照【维护通知功能】,在必要时期对仪器进行自我维护,保持设备**状态

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维护通知功能【客户支持工具】

◇ 标配场发射电子枪

能够在高倍率下获得高空间分辨率的SEM像和分析结果。在大电流下保持长时间稳定的热电子枪在短时间内分析微量元素的时候、整夜运行分析大量样品的时候显示出它的威力。

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JXA-iHF200F参数.jpg


产品优势
XA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同时,追求每个人都能简单快速地使用好仪器。该仪器能更加有效地进行观察分析和操作,是更先进的一体化集成FE-EPMA。
  • 电子探针是一种利用电子束作用样品后产生的特征X射线进行微区成分分析的仪器,可以用来分析薄片中矿物微区的化学组

  • 电子探针方法是利用高能电子束对样品进行成分分析的方法。基本原理是利用电磁透镜聚焦的高能电子束轰击固体表面的某

  • 在众多样品化学成分分析的仪器中,电子探针分析技术(EPMA)是一种应用较早、且至今仍具有独特魅力的多元素分析

  •   扫描电镜的用途        通过样品中的电子激发出的各种信号,

  • 扫描电子显微镜是一种大型分析仪器,它广泛应用于观察各种固态物质的表面超微结构的形态和组成。 所谓扫描是指在图

  •   非金属夹杂物是金属材料中非金属元素氧、氮、硫与金属元素铁、锰、铝、钛等组成的氧化物、氮化物、硫化物和硅酸

  •   扫描电镜全称扫描电子显微镜,是自上世纪60年代作为商用电镜面世以来,迅速发展起来的一种新型的电子光学仪器

  •   扫描电镜全称扫描电子显微镜,扫描电镜制样方法直接关系到电子显微图像的观察效果和对图像的正确解释。如果制备

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