GE Nanomex 奈米级超高分辨率检测系统

产品特色∶

1.主要功能∶

• 满足最高检测要求，如半导体和SMT的高精密封装产品。

• 高功率nm焦点管(4合1)，实现从nm分辨到高功率多种应用。

• 可配高清晰分辨的数位影像系统，400万画素即时数位图像。

• 180 kV/ 15W的高功率微聚焦管具有高达200nm的细部检测能力。

• 经由的即时双视野图像增强器技术（数位图像链和自动恒温的数位检测器，可达每秒30帧）。

• 先进的射线能量稳定技术。

• 高放大倍率，下倾斜视角达70度。

• 自动检测BGA、CSP、QFP、PTH等焊点与空隙分析，弯曲度计算。

• 维修率低，寿命长，开放式nanofocus光管。

• 人体工学设计，操作更简便。

• 高度的可再现性。

  可升级到nanoCT系统

• 可选配∶

• 基於高分辨率自动化X射线检测(μAXI)，xact软体模组可方便快速的CAD以达到极高的缺陷覆盖率，并具有高放大倍率和高度可再现性。

• 高动态恒温GE DXR数位检测器可侦测30 FPS（每秒30帧）的清晰即时影像。

• 10秒内的3D CT扫描功能(选配)。

• 高达2倍的速度在相同的高影像品质等级的钻石|视窗作为一个新的标准的资料撷取

  2.客户利益∶

• 可结合2D/3D的CT操作模式

• 透过的即时图像双检测器技术（数位图像链和自动恒温的数位检测器，可达每秒30帧）

• 检测步骤的自动化是有可能的

• 杰出的操作便利性

• 2D焊及焊查	2D裂

  格
  最大管	180 kV
  最大功率	15 W
  部能力	高0.2 μm
  最小焦物距	0.3 mm
  最大3D像素的分辨率(取於象的大小)	< 1 m
  何倍率(2D)	高1970倍
  何放大倍率(3D)	300倍
  最大目尺寸(高 x 直径)	680 mm x 635 mm / 27" x 25"
  最大目重量	10 Kg / 22 磅
  像	200像素的位像
  操作	5的品方向移操作(X、Y、Z、R、T)
  2D X射成像	可以
  3D CT描	可以(配)
  系统尺寸	1860 mm x 2020 mm x 1920 mm (73.2” x 79.5” x 75.6”)
  系统重量	2600 Kg / 5070 磅
  射安全	- 全防射安全，依德ROV和美性能21 CFR 1020.40 (X-Ray系)。 -射漏率：台壁的10cm量 <1.0Sv/h。

  用域：
  SMTICBGA 基板精密零件子零件PCBA 半封
  

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